JCD3型讀數顯微鏡使用——廠家提供(上海雷韻)
JCD3型讀數顯微鏡是在JCD2-A型的基礎上,經改型設計而成。由于充分考慮到用戶的使用要求及綜合JCD系列讀數顯微鏡的生產經驗,使本產品的結構更合理,性能更趨,是目前高等院校和中等學校用于基礎物理實驗的*設備。本產品操作方便,用途廣泛,可根據用戶的不同需要,完成下列功能:
可作長度測量,也可作觀察使用。如測孔距、直徑、直線距離及刻線寬度等。配用牛頓圈還可以測定光的波長及透明介質的曲率半徑等。
擴大一般讀數顯微鏡的使用范圍,可根據不同使用要求在不同方向上測量及觀察。
顯微鏡可置水平和垂直位置,能搭成各種測試裝置。
配備測微目鏡和物方測微器,可測量顯微鏡的放大率和玻璃平板的折射率。
技術性能
光學系統性能
物鏡 | 目鏡 | ||
放大倍數 | 焦距(毫米) | 放大倍數 | 焦距(毫米) |
3X/0.07 | 41.47 | 10X | 24.99 |
顯微鏡放大倍數 | 工作距離(毫米) | 視場直徑(毫米) |
30 | 54.06 | 4.8 |
測量范圍
縱向50毫米,小讀數值0.01毫米;升降方向40毫米,小讀數值0.1毫米。
測量精度:縱向測量精度為0.02毫米。
觀察方式:45º斜視。
儀器外形尺寸:195×155×285(毫米)
儀器凈重:8.5公斤。
目鏡(2)可用鎖緊螺釘(3)固定于任一位置,棱鏡室(19)可在360º方向上旋轉,物鏡(15)用絲扣擰入鏡筒內,鏡筒(16)用調焦手輪(4)完成調焦。轉動測微鼓輪(6),顯微鏡沿燕尾導軌作縱向移動,利用鎖緊手輪I(7),將方軸(9)固定于接頭軸十字孔中。接頭軸(8)可在底座(11)中旋轉、升降,用鎖緊手輪II(10)緊固。根據使用要求不同方軸可插入接頭軸另一個十字孔中,使鏡筒處水平位置。壓片(13)用來固定被測件。旋轉反光鏡旋輪(12)調節反光鏡方位。
為便于做牛頓環實驗,本儀器還配備了半反鏡(14)附件。
使用說明
將被測件放在工作臺面上,用壓片固定。旋轉棱鏡室(19)至舒適位置,用鎖緊螺釘(18)止緊,調節目鏡進行視度調整,使分劃板清晰,轉動調焦手輪,從目鏡中觀察,使被測件成象清晰為止,調整被測件,使其被測部分的橫面和顯微鏡移動方向平行。轉動測微鼓輪,使十字分劃板的縱絲對準被測件的起點,記下此值[在標尺(5)上讀取整數,在測微鼓輪上讀取小數,此二數之和即是此點的讀數]A,沿同方向轉動測微鼓輪,使十字分劃板的縱絲恰好停止于被測件的終點,記下此值A’,則所測之長度計算可得L=A’-A,為提高測量精度,可采用多次測量,取其平均值。
等厚干涉實驗中的應用
用牛頓環測定透鏡的曲率半徑。
把一塊曲率半徑很大的平凸透鏡的凸面放在一塊平面玻璃板上(圖二a),保持點接觸,此時如以垂直的單色光照明,在接觸點外的空氣層上下兩表面會產生干涉,而且是以接觸點為圓心的明暗相間的光環,物理學上稱為牛頓圈(圖二b),由于明(或暗)圈處的空氣層的厚度相等,故稱為等厚干涉。
波長為λ的單色光
a | b |
圖二
由等厚干涉相關理論,可以推斷
式中:R——凸透鏡的曲率半徑,λ——單色光波長
Dm,Dn——第m和第n圈的直徑,由讀數顯微鏡測量取得。
實驗中:一般|m-n|≥5,并選取5~10組不同的Dm和Dn組合,求取 ,以消除系統誤差。
用劈尖測薄片厚度。
把兩片很平的玻璃上下疊合,其中一端放一薄片,則兩玻璃片之間就形成一楔形空氣層(圖三a),此時在垂直的單色光照明下,也可見間隔相等的等厚干涉直條紋(圖三b)。
a | b |
圖三
由相關理論,可以推斷出
式中:d――薄片厚度 L――玻璃片A端至薄片B處的
距離并由讀數顯微鏡測取
λ――單色光波長 n――L距離內明或暗條紋的數量
實驗中:由于劈尖兩端被夾座掩蓋,無法數出L全長內的條紋數,所以一般在L內測取某一段距離Lˊ內的nˊ和dˊ,由式 計算出d。
實驗中讀數顯微鏡的使用。
把牛頓環放在工作臺面上,中心接觸點(肉眼可見)對準鏡筒*。
用鈉光燈水平照射在45º半反鏡上,轉動調焦手輪,即可見清晰的牛頓圈干涉環,如是可調式45º半反鏡,則同時需略微轉動半反鏡,使光線垂直入射牛頓環。
用讀數顯微鏡目鏡中的叉絲依次與待測圓環相切,從左向右(或從右向左,不可中途返向)讀取各環的直徑,注意移動方向應是沿著各環的直徑方向,否則測取的是弦長而非圓環直徑。
同理可做劈尖實驗,由于劈尖的特性,所以顯微鏡中看到的直條紋較虛,這是正?,F象。如果觀察到的條紋傾斜,可通過調節劈尖夾座的四顆固定螺釘來糾正。
實驗中應注意調整顯微鏡的本身和鏡筒高度,如測取的D或L較大時,應不斷調節光源位置,使盡量靠近讀數顯微鏡,保證有足夠的光強,以得到較清晰明亮的干涉圖像。
實驗中,讀數顯微鏡底座中的大反光鏡不需用,應反轉向內,避免有反射光反射向上至牛頓環內,影響觀察的背景。
儀器的保養
讀數顯微鏡是較精密的測量儀器,在使用和搬運中應謹慎小心,避免震動及碰撞。儀器應保持清潔、潤滑。
被測件應壓緊,并無灰塵、污物。
松開各鎖緊手輪時必須用手托住相應部分,以免其墜落和受沖擊,旋轉目測系統時,應先松開棱鏡室鎖緊螺釘。
若儀器光學零件表面有灰塵、污物等影響觀察時,可用擦鏡紙擦拭。
儀器應經常保養,注意在導軌、絲桿及齒軸中加適量的潤滑油。
常見故障及檢修方法
縱向讀數空位大于0.03mm
原 因:(1)傳動螺母與絲桿的配合過松。
(2)尾部錐度螺釘松。
(3)傳動螺母與拖板連接彈/簧部件螺釘松動。
檢修方法:
首先檢查精密絲桿的軸向串動量,如手感有串動,可調整尾部錐度螺釘,使轉動絲桿時舒適又無串動,然后固緊小孔螺母。如仍末消除,先拆去中間二塊遮板,拆下連接彈/簧的兩只固緊螺釘,取下彈/簧/,推開拖板部件,旋緊傳動螺母上的錐形螺釘。調節傳動螺母上的兩只螺釘,使傳動螺母與絲桿的配合間隙較小,又無卡滯現象,后依次裝配拆下的零件。
鏡筒自行下滑
原 因:(1)偏心套松動。
檢修方法:
旋松手輪上的三只固緊釘,取下調焦手輪,旋松偏心套的兩固緊螺釘,調整偏心套的偏心量,并用力將偏心套向內壓,使齒輪軸與顯微鏡筒的配合活動舒適,鎖緊可靠,然后旋緊偏心套的兩固緊螺釘,后裝配調焦手輪。
毫米刻尺零位不準
原 因:(1)刻度輪壓緊螺母松動。
檢修方法:
旋緊刻度輪的壓緊螺母,然后松開毫米刻尺的兩個固定螺絲,先將刻度輪對準零位,再左右略微移動毫米刻尺,使指標對準某一整刻度線即可。
長度測量值累計誤差大于0.02mm
原 因:(1)絲桿與導軌不平行。
(2)基準圓柱導軌與拖板的孔配合過松。
(3)圓柱導軌螺釘松。
檢修方法:
超差不大,可先調節絲桿尾部法蘭的位置,使絲桿與基準圓柱導軌平行,如仍未達到要求,要拆下拖板邊上兩塊遮板,調節基準圓柱導軌的位置,一般情況測量累計誤差會小于0.02mm。但亦有少數雖經以上調整仍達不到小于0.02mm,應檢查拖板與基準圓柱導軌的配合情況,可用眼睛通過目鏡觀察標準尺,左手握住測量架部件,右手握住拖板輕輕轉動,觀察目鏡中的十字線有否走動,如果走動,等右手離開拖板時又不回到原來位置,這說明其準圓柱導軌與拖板圓柱導軌與拖板圓孔配合過松,產生測量誤差,它是一個放大的誤差,調換一支直徑稍大一點的圓柱導軌,如手頭有困難可采取臨時方法,即用空心和90º錐形沖頭使拖板內孔變形有規則的縮小,然后研磨、清洗、烘干、涂油重新裝配。
鏡組不隨刻度輪轉動向移動
原 因:(1)刻度輪空轉。
(2)絲桿尾部*頂死絲桿。
(3)絲桿傳動螺母上的錐形螺釘脫開連接彈/簧
小孔。
檢修方法:
用尖嘴鉗(須磨尖)或工具旋緊刻度輪壓緊螺母。
松開尾部錐度螺釘的鎖緊螺母,把錐度螺釘略外旋,檢查絲桿手感無軸向串動。且刻度輪能輕松轉動。再將鎖緊螺母旋緊即可。
參照故障1中將彈/簧小孔套入錐形螺釘。
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