GCSTD-A/B2020新款GCSTD系列高頻介電常數測試儀參數的詳細資料：

介電常數測試儀及介質損耗測試儀

主要用途:

主要用于測量非金屬材料的介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）

應用對象:

該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究

電極規格

固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm

液體：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

測量方法?可采用直接測量法和替代法兩種。當采用直接測量法時，必須消除連接線和試樣實具等分布參數?的影響。?測量電路的分布參數可用圖4表示，圖中Ls、Rs為與試樣串聯的連接線、夾具等的等效電感及?電阻，Cp、RP為與試樣并聯的連接線、夾具等的等效電容及電阻。當Ls、Rs很小,且可忽略時,?或當CP

技術指標:

功能名稱：	GCSTD-A	GCSTD-AI	GCSTD-B
信號源范圍DDS數字合成信號	10KHZ-70MHz	10KHZ-110MHz	100KHZ-160MHz
7000:1	11000:1
信號源頻率精度 6位有效數	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字
1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程
4位有效數,分辨率0.1	4位有效數,分辨率0.1
<5%	<5%
4位有效數,分辨率0.1nH	1nH-8.4H 1nH-140m電感測量誤差	<5%	調諧電容	0p主電容30-54F	-24F調諧電容誤差	或<1% 0.1pF±1 pF	或<1% 0.1pF諧振點搜-word" td="" valign="top" width="111">Q合格預置范圍

LCD顯示參數	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能	有	有	有
大電容值直接測量顯示功能	測量值可達2.5uF	測量值可達2.5uF	測量值可達25nF
介質損耗系數	精度萬分之五	精度萬分之五	精度萬分之五

2020新款GCSTD系列高頻介電常數測試儀參數