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深圳海納光學有限公司
主營產品： 激光護目鏡，可飽和吸收鏡，衍射光學元件，光束整形器，太赫茲透鏡，太陽能模擬器，太赫茲相機，激光測量儀，離軸拋物面鏡，微透鏡陣列 |
公司信息
| 參考價 | ￥ 99990 |
| 訂貨量 | 1個 |
- 型號 SID4 LWIR
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 深圳市
海納光學代理的法國PHASICS是一家波前傳感器生產廠家，它具有雄厚的技術研發實力和研發經驗，*可以為客戶提供的各種自適應的光學系統（Adaptive Optics Loops) OA-SYS。同時，設計個性化解決方案，并且根據客戶應用的需求，向客戶提供合適的可變形鏡，SID4波前傳感器、空間光調制器或者自適應光學系統操作軟件等。
法國PHASICS公司擁有自主研發的法國Phasics 波前傳感器-波前分析儀，這種儀器是基于四波橫向剪切干涉技術而設計的。SID4系列波前探測器與傳統的夏克-哈特曼波前探測器比較，法國Phasics波前分析儀具有高動態檢測范圍、消色差、高分辨率、消色差、操作簡便，高靈敏度等優勢。可以向波前畸變、波前相差探測以及光束質量及波前參數的測量、分析；眼科的虹膜定位以及波前像差引導等提供了完整的解決方案！PHASICS波前探測器軟件界面具有易用性，能夠明了的輸出高分辨率的相位圖和光束強度的分布圖。
本文的產品主要有：適用于常用波段的SID4波前傳感器; 用于紅外波段的型號：SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR, SID4-HR； 深紫外波段的SID4-UV和SID4 UV-HR。所有的波段都能夠有適合的產品為您提供，并且有高采樣點的型號和普通標準的型號等等。
法國Phasics 波前傳感器-波前分析儀
法國Phasics SID4 波前傳感器的特點：
SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強度分布，波前位相、澤尼克參數, 激光的M2等進行實時的測量及參數輸出。
-可直接測量：消色差設計，測量前無需再次對波長校準，消色差：干涉和衍射對波長相消
-高分辨率：更多采樣點可達120000個（160x120），測量穩定性高
-內部光柵橫向剪切干涉，防震設計，無需隔震平臺也可測試，對實驗條件要求簡單
-高動態范圍：高達500μm
-波長范圍：400-1100nm
SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器的特點：
PHASICS公司將 SID4的測量波長范圍:190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前探測器,非常適用于光學元件測量（例如印刷、半導體等等）和表面檢測（半導體晶片檢測等）。
-高分辨率（250x250）
-通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）
-覆蓋紫外光譜
-靈敏度高（0.5um）
-優化信噪比
SID4-HR 波前相差儀特點：
能夠進行對透鏡、光學系統實時的PSF（點擴散函數）、OTF（光學傳遞函數）、MTF（調制傳遞函數）以及波前像差測量和參數輸出。與傳統的透鏡檢測設備比較：干涉儀，傳函儀、具有測量精度高，操作簡便，參數輸出方便等優勢。
-曝光時間極短,保證動態物體測量
-波長范圍：400-1100nm
-實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000個測量點）
-高性能的相機，信噪比高，操作簡單
SID4 NIR 波前分析儀
其主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光進行檢測的儀器，具有分辨率高，高動態范圍、高靈敏度、操作簡便等*的優勢。是紅外透鏡像差，光學測量和紅外物體、MTF，PSF以及焦距和表面質量測量的理想工具。
-高分辨率（160x120）
-快速測量
-測量
-對振動不敏感
-性價比高
SID4 UV 波前分析儀
其主要針對250-450nm激光進行檢測的儀器，具有分辨率高，高動態范圍、高靈敏度、操作簡便等*的優勢。適用于UV光學測試，UV激光表征（用于光刻，半導體......）和表面檢測（透鏡和晶圓......）光學測量和MTF，PSF以及焦距測量。
-非常高的分辨率-250×250相位圖
-高靈敏度 - 2 nm RMS
-經濟實惠的紫外波前測量解決方案
SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前儀
擁有寬波段波前探測的特點。實時的檢測3-5um以及8-14um的強度分布和波前位相等的波前信息。可以很好的應用于紅外波段應用的波前檢測需求。
-光學測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質量和透鏡焦距。
-光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）此型號可以提供詳盡的光束特性參數：M2，像差，光束特性，光強分布等
-可實現離軸測量，可實現測量，性價比高
-高分辨率（96x72，快速測量 對振動不敏感
-可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數值孔徑測量，無需額外中轉透鏡
法國Phasics波前相差儀主要應用：
-光學系統質量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數, 光學鏡頭/系統質量控制
-激光光束參數測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數
-生物應用：蛋白質等組織定量相位成像
-自適應光學：焦斑優化，光束整形
-熱成像分析，等離子體特征分析
-元器件表面質量分析：表面質量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑
法國Phasics波前探測器參數規格對比
型號 SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4 UV-HR SID4-UV SID4 V Vacuum SID4 LWIR
孔徑mm 3.6×4.8 8.9×11.8 13.44×10.08 9.6×7.68 3.6×4.8 8.0 x 8.0 7.4×7.4 4.73x3.55 16x12
分辨率μm 29.6 29.6 68 120 µ 29.6 32 29.6 29.6 100
采樣點 160 × 120 400×300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 x 250 250×250 160x120 160x120
波長 nm 400-1100 400-1100 3~5µm
8~14µm 0.9~1.7µm 1.5~1.6µm 190-400 250~450 400-1100 8-14 µm
動態范圍 >100µm >500µm N/A ~ 100µm > 100µm >200µm
精度nmRMS 10 15 75 10 > 15 10 20 15 25
靈敏度（同上） < 2 < 2 < 25<3/1 < 11 0.5 2 15 75
采樣頻率fps > 60 >10 >50 25-60 60 > 30 30 60 24
處理頻率Hz 10 3 20 > 10 10 1 fps > 2 7 >10fps
尺寸mm 54×46×75.3 54×46×79 85×116×179 50×50×90 44×33×57.5 95x105x84 53×63×83 54x46x75.3 96x110x90
重量 g 250 250 1.6kg 300 250 ~900 450 250 850
夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表
Phasics剪切干涉
夏克哈特曼 區別
技術 四波側向剪切干涉 夏克-哈特曼 PHASICS SID4是對夏克-哈特曼技術的改進，投放市場時，已經申請技術 patent，售出超過500個探測器。
重建方式 傅里葉變換 分區方法（直接數值積分）或模式法（多項式擬合） 夏克-哈特曼波前探測器，以微透鏡單元區域的平均值來近似。對于大孔徑的透鏡單元，可能會增加信號誤差，在某些情況，產生嚴重影響。在分區方法中，邊界條件很重要。
光強度 由于采用傅里葉變換方法，測量對強度變化不敏感 由于需要測量焦點位置，測量對強度變化靈敏 關于測量精度，波前測量不依賴于光強度水平
使用、對準方便 界面直觀，利用針孔進行對準 安裝困難，需要精密的調節臺 SID4 產品使用方便
取樣（測量點） SID4-HR達300*400測量點 128*128測量點（微透鏡陣列） SID4-HR具有很高的分辨率。這使得測量結果更可靠，也更穩定
數值孔徑 SID4 HR NA：0.5 0.1 SID4-HR動態范圍更高
空間分辨率 29.6μm >100μm SID4-HR空間分辨率更好
靈敏度 2nmRMS 約λ/100 SID4-HR具有更好的靈敏度
總體而言，在空間分辨率和靈敏度而言基于剪切干涉技術的波前分析儀都比夏克哈特曼為基礎的波前分析儀要更為superior。采樣點更多，準確度更高分辨率也更高。安裝便捷，配套的軟件功能豐富。基于傅里葉變換，將時域轉換為頻域分析使得其不依賴光強變化，更加的敏感，但可能不能估計光強的變化。一定條件下，它是選擇作為激光質量分析，透鏡質量監控，光學表面測量，以及成像的更優選擇。
