x射線熒光光譜儀

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更新時間：2016-11-01 10:54:26瀏覽次數：346次

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產品簡介

x射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界.先。

詳細介紹

x射線熒光光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(X射線熒光光譜儀：www.hpge。。ｃｏｍ.cn/guangpufenxiyi) :,咨詢:】

.公司業務分為電子測試儀器部，化學分析儀器部，材料分析儀器部，電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設備部。華普通用與美國安捷倫(Agilent)、美國力科(LECORY) 、美國吉時利(KEITHLEY) 、美國泰克(Tektronix) 、美國科學儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO) 、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亞CLUSO等數十家*儀器制造商在中國區有著廣泛的合作。x射線熒光光譜儀

產品介紹：
SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界.先。
SPECTRO iQ II無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
SPECTRO iQ II微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
SPECTRO iQ II不受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。
樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區自定義

標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機

可選配件
可升級為SDD探測器

可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存