X-MET5100 手持式 X 射線熒光光譜儀（已停產(chǎn)，替代型號為：X-MET7500)

保證了鋁及鈦合金的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時(shí)的敏感性也是的，無需借助復(fù)雜的真空泵或氦氣罐等附屬設(shè)備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進(jìn)行測量。硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)分析方法的強(qiáng)大結(jié)合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內(nèi)，準(zhǔn)確地分析和確定金屬合金成分。受限物質(zhì)（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到準(zhǔn)確測量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內(nèi)，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結(jié)果。

這款堅(jiān)固的便攜式 XRF 輕元素測試工具，專為以下行業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì)：

• 金屬材料可靠性鑒定（PMI）
• 廢舊金屬回收行業(yè)
• 環(huán)境重金屬監(jiān)測（土壤和RoHS）
• 航空和汽車工業(yè)
• 礦石勘察、現(xiàn)場挖掘控制和礦山制圖