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ZEISS METROTOM 工業(yè)CT斷層掃描測量儀
基于ZEISSMETROTOM的工業(yè)計算機斷層掃描(CT)利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng),僅需一次X射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗COMET5 - The 3D Sensor R-Evolution三維掃描儀
近年來,由于工業(yè)制造技術(shù)不斷日新月異,因此產(chǎn)品研發(fā)領域及質(zhì)量檢測領域的應用需求也日益成長,針對復雜曲面的非接觸式三維量測技術(shù)也變得越來越重要請輸入賬號
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