從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在定被激發(fā)區(qū)的測量區(qū)域內(nèi)，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測得的X熒光強(qiáng)度與該測量范圍鍍層和涂層的厚度成定正比例關(guān)系。在定的厚度范圍內(nèi)，鍍層和涂層的厚度與激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度成正比例關(guān)系，因此只要測量該范圍內(nèi)的X熒光強(qiáng)度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。
根據(jù)X熒光分析測量原理，當(dāng)放射性同位素源或X射線發(fā)生器（X射線管）放出的X射線照射到鍍層和涂層時(shí)，其不但能夠激發(fā)此鍍層和涂層產(chǎn)生相應(yīng)的鍍層和涂層的特征X射線，也能夠激發(fā)基材產(chǎn)生相應(yīng)基材的特征X射線。因此不但能夠測量鍍層和涂層的特征X射線，也可以測量基材產(chǎn)生基材的特征X射線來計(jì)算鍍層和涂層的厚度。
Thick800A測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款，可自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動平臺。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求高精度移動平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
Thick800A技術(shù)指標(biāo)
型號：LED支架測厚儀Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm。
分析含量般為ppm到99.9%
。鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
Thick800A標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量,
電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
是的鍍層測厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價(jià)比，在行業(yè)內(nèi)銷量*，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，氣相色譜質(zhì)譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，手持式，ROHS檢測設(shè)備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù)，是內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。
鍍層測厚儀展廳
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