X熒光光譜儀又稱為ROHS檢測儀，根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
優點
a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同試樣可反復多次測量，結果重現性好。d) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
簡介
EDX1800B是款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以完可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中版RoHS二階段應對手段。
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
標準配置
移動樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
是專業生產X熒光光譜儀，氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GC-MS6800，ICP-MS2000等。
