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江蘇天瑞儀器股份有限公司
產品說明、技術參數及配置本產品符合國標GB/T18043-2013對儀器分辨率的要求,EDX3000B采用Si-Pin半導體探測器,遠勝于正比計數探測器;準確無誤地分析黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量
國家質檢總局發布的國家標準GB/T18043《貴金屬飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。
目在貴金屬制造行業已經形成大規模使用X(XRF)來測試貴金屬含量。
XRF對貴金屬檢測的優勢
標準:產品符合國家相關行業標準和技術標準,并通過等相關檢驗機構檢驗,并可以提供校準證書;
快速:對樣品無需處理,一般只需要20~200即可判定金、銀、鉑、鈀等含量,方便對飾品做大量抽樣的檢測;
精準:ppm精確度,可靠的檢測數據;
無損:測試后,樣品無任何形式的變化;
直觀:實時譜圖,可直觀顯示貴金屬或有害元素含量;
簡易:操作簡易,無需業測試人員,無需嚴格的測試條件;
安全:三重保護裝置,確保安全無誤;
經濟:測試過程基本不需要任何耗材,降低測試與維護費用;
可靠:為化學分析提供測量依據,減少成本,提高效率。
更新時間:2024/4/8 12:00:21
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