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目錄:北京海富達科技有限公司>>儀器儀表>>試驗機>> ZXTSLJ-Ⅰ雙棱鏡干涉實驗儀報價
| 產地 | 國產 |
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雙棱鏡干涉實驗儀報價雙棱鏡干涉實驗儀報價 型號:ZXTSLJ-Ⅰ庫號：M356816 查看hh
觀察光的干涉現象，一種分波前光路實驗雙光束干涉的方法；
用雙棱鏡干涉測量光波波長；
學會雙棱鏡干涉光路的共軸調節方法；4、學會用測WEI目鏡測WEI小長度。
1、儀器的組成：雙棱鏡、可調狹縫、凸透鏡、毛玻璃屏、測WEI目鏡、半導體激光器、短焦距擴束透鏡、光具座、滑座等；
2、采用導軌長度為1000mm；
3、測WEI目鏡量程：8mm,放|大|率：15x.ZUI小讀數：0.01mm，測量精度：＜0.01mm；
4、可調狹縫，調節范圍：0-5mm；
5、凸透鏡：f=150mm；
6、波長為650nm半導體激光器；
7、帶刻尺的滑座；
選配鈉燈及白光光源
觀察光的干涉現象，一種分波前光路實驗雙光束干涉的方法；
用雙棱鏡干涉測量光波波長；
學會雙棱鏡干涉光路的共軸調節方法；4、學會用測WEI目鏡測WEI小長度。
1、儀器的組成：雙棱鏡、可調狹縫、凸透鏡、毛玻璃屏、測WEI目鏡、半導體激光器、短焦距擴束透鏡、光具座、滑座等；
2、采用導軌長度為1000mm；
3、測WEI目鏡量程：8mm,放|大|率：15x.ZUI小讀數：0.01mm，測量精度：＜0.01mm；
4、可調狹縫，調節范圍：0-5mm；
5、凸透鏡：f=150mm；
6、波長為650nm半導體激光器；
7、帶刻尺的滑座；
選配鈉燈及白光光源
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