數(shù)顯恒溫恒濕試驗(yàn)箱 滿足標(biāo)準(zhǔn)： 135 3237 0059張S 1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A 5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、

數(shù)顯恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
2.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
3.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A  
5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B  
6.GB2423.22溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N  
7.IEC68-2-14試驗(yàn)N  
8.標(biāo)GJB150.3-86  
9.標(biāo)GJB150.4-86  
10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法  
11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法  
 
數(shù)顯恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備說明：
該產(chǎn)品適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制
設(shè)備型號(hào)：TS-50 500×400×350（長(zhǎng)×寬×高）
溫度沖擊型:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃
D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃  
 
數(shù)顯恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置：
技術(shù)參數(shù)
沖擊方式：兩箱式或三箱式（用戶自選）
工作室溫度沖擊范圍:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃  D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃ 
高溫室溫度范圍:60℃～150℃、 升溫時(shí)間≤45分鐘
低溫室溫度范圍:根據(jù)用戶選擇的型號(hào),降溫時(shí)間≤45分鐘
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
高溫室溫度偏差：≤±2℃
低溫室溫度偏差：≤±2℃
溫度恢復(fù)時(shí)間鐘： ≤5分
工作室轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10秒
 
數(shù)顯恒溫恒濕試驗(yàn)箱沖擊轉(zhuǎn)換方式：兩箱式為試件選擇環(huán)境轉(zhuǎn)換,三箱式為環(huán)境選擇試件轉(zhuǎn)換
高溫室尺寸：700×700×350（深×寬×高）單位mm（LCR-50A）
低溫室尺寸：700×700×350（深×寬×高）單位mm（LCR-50A）