Flex One 顯微光致發光光譜儀：
 

光致發光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm 等）激發材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL 譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。

傳統的顯微光致發光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結合，但是傳統的顯微鏡在材料的PL 譜測量中，存在很大的局限性，比如無法靈活的選擇實驗所需的激光器（特別對于UV 波段的激光器，沒有足夠適用的配件），無法方便的與超低溫制冷機配合使用，采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題，都是采用標準顯微鏡難以回避的問題。

北京卓立漢光儀器有限公司結合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統的設計經驗和普遍用戶的實際需求，推出了“Flex One( 微光）”系列顯微光致發光光譜儀，有效的解決了上述問題，是目前市場上高性價比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

 性能特點：
■ 一體化的光學調校——整機設計，結構穩固，光路穩定，確保高效性和易用性
■ 簡單易用的雙樣品光路設計——可隨意在水平和垂直樣品光路上進行切換，適用于各種常見的樣品夾具
■ 超寬光譜范圍——200nm-2600nm
■ 視頻監視光路——通過監視器，查找微米級樣品，可供精確調整，定位測試樣品點
■ 多種激發波長可選——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等
■ 自動mapping功能可選——50mm×50mm標準測量區間，可定制特殊規格，步進精度1μm
■ 熒光壽命測量功能可選——μs、ns、ps熒光壽命測量選項
■ 電致發光(EL)功能可選——擴展選項
■ 顯微拉曼光譜測量功能可選——擴展選項
■ 超低溫測量附件可選——可配置多種低溫樣品臺
*選配項，請詳細咨詢；
**需根據實際需要進行配置確定。

系統組成：

● 激發光源部分：紫外-近紅外波段各種波長激光器
● 顯微光路部分：優化設計的專用型顯微光路
● 光譜采集部分：影像校正光譜和高靈敏型科學級CCD或單點探測器和數據采集器
● 樣品臺支架部分：xyz三維可調樣品臺（手動或自動）、超低溫樣品臺
 

參數規格表：

主型號		Flex One
光譜范圍		200-1000nm(200-2600nm)
光譜分辨率		~0.1nm
激發光可選波長		266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等
探測器	類型	單點 PMT	單點 PMT	單點 InGaAs	CCD 1024×122	InGaAs陣列 512×1	InGaAs陣列 1024×255
	有效范圍	200-900nm	950-1700nm	800-2600nm	200-1000nm	800-1700nm	200-1000nm
空間分辨率		<50μm
注*：以上為參考規格，詳細規格依據不同配置的選擇會有差異，！

測量附件：
電致發光測試附件
Flex One 可升級電致發光測試，多樣化樣品臺、樣品架可滿足用戶各類測試需求。針對薄膜、片狀樣品電致發光，可在正面扎探針，采用長焦顯微物鏡或定制光纖棒收光；針對背電極樣品，可根據用戶電極分布情況定制樣品臺、樣品架。除電致發光測試外，亦可升級LBIC 光束誘導電流測試。
熒光壽命測試附件
Flex One 可升級瞬態熒光測試。用戶可根據不同測試需求選配不同的脈沖激發光源、探測器及數據采集器。我們可提供半導體激光器、固體激光器、OPO 激光器、超連續激光器以及光電倍增管、ICCD、條紋相機等探測器，滿足不同時間段的壽命測試。

	脈沖激發光源	探測器
μs-ms	半導體激光器/固體激光器	光電倍增管/ICCD
ns-μs	OPO激光器/皮秒激光器	光電倍增管/ICCD
ps-ns	超連續激光器/飛秒激光器	光電倍增管/條紋相機