機(jī)械沖擊試驗(yàn)用途：

       本設(shè)備是專為電子元器件、儀器儀表及機(jī)械產(chǎn)品等提供模擬沖擊環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備，對產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用過程中承受沖擊破壞程度依據(jù)，可完成半正弦波（基本波形）、后峰鋸齒波、梯形波；三種脈沖的沖擊試驗(yàn)相關(guān)要求。機(jī)械沖擊試驗(yàn)臺主要用于小中型產(chǎn)品作沖擊試驗(yàn)，考核試品承受沖擊破壞的能力。常應(yīng)用于電子元器件，電子線路板等環(huán)境試驗(yàn)。

       本試驗(yàn)設(shè)備符合GJB 360A-96標(biāo)準(zhǔn)中的方法機(jī)械沖擊試驗(yàn)條件，GB/T2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)方法》及《IEC68-2-27，試驗(yàn)Ea：沖擊》；UN38.3和《MIF-STD202F》規(guī)范對沖擊試驗(yàn)的要求。

       機(jī)械沖擊試驗(yàn)的基本波形：

       1、半正弦波：正弦波的半個(gè)周期。

       2、后峰鋸齒波：具有短的下降時(shí)間的不對稱三角形。

       3、梯形波：具有短的上升和下降時(shí)間的對稱梯形。