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上海名君國際貿易有限公司
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德國卡爾德意志KD檢測儀器設備有限公司是世界Z*的無損檢測儀器設備專業生產廠家之一，公司技術實力雄厚，技術*，具有幾十年的開發，研制及生產無損檢測儀器和成套設備的歷史。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀簡介：
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術和簡單的操作方法，是*的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現場迅速的升級。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經濟的產品，電池壽命長，可以連續工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數量，因此一些重要的參數可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內，可以保護儀器在工業環境中意外滑落不受損害。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀特點：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準選項
◆ 出廠時已校準，立即可用
◆ 在未知涂層上校準*
◆ 零校準*
◆ 在無涂層的基體上一點和多點校準*
◆ 在有涂層的基體上校準*
◆ 校準數據可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調出
◆ 可選擇的顯示模式，以*形式去完成測量任務*
◆ 輸入和極限監視*
◆ 在Windows下有簡單的存儲讀數檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統計*
◆ 可統計評估999個讀數
◆ zui小值、zui大值、測量個數、標準偏差和極限監視
◆ 局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在線統計，所有統計值概括
3種配置級別以更好的完成測量任務
基本型 – 證明質量的基本特征
高級型 - 附加統計評估
專業型 - 統計評估和數據存儲
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或專業型。升級只需在現場輸入解鎖代碼，“統計”和/或“統計& 數據存儲”，便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀多探頭選擇：
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm也是可以的。根據需求，我們也可以訂做特殊探頭。
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標準探頭Fe 0°用于寬闊的、容易測量的地方 |
| 標準探頭NFe 0° |
| 標準探頭 NFe 0° |
| 標準探頭Fe 0° 用于測量表面有寬闊的涂層厚度 |
| 標準探頭Fe 90°用于測量難接近的部位， 例如：管道的內部 |
| 雙晶探頭Fe 90°用于測量表面有寬闊的涂層 例如：管子的內部涂層. |
| 微型探頭 Fe/NFe 0° 用于測量小尺寸和難接近的部位,例如：鉆孔的底部 |
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微型探頭 Fe/NFe 45° 用于測量小尺寸和難接近的部位 |
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| 微型探頭 Fe/NFe 90°用于測量小尺寸和難接近的部位， 例如：管子的內壁和鉆孔 |
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技術參數：
◆ 數據傳輸接口RS232 或 USB
◆ 電源：電池、充電電池、USB或外接電源
◆ 測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
◆ 測量速度: 每秒測量2個數值
◆ 存儲: zui多 9999 個數值，140個文件
◆ 誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數 +/- 1 um (校準后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數 +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數 +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數或全部文件傳輸到Windows
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