詳細介紹：
  

新型X熒光貴金屬分析儀EDX 3600繼承了準確、快速、無損、直觀及環保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果*符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。

性能特點

三重安全保護模式 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
高信噪比的電子線路單元 
全元素測試X熒光分析軟件 
與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖
采用世界上的SDD硅漂移探測器，分辨率zui低至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量
提供多種準直器，直徑zui小達0.2mm，輕松實現精小部位的精確測試
精選優質組件組件 
真空腔
在分析低含量的輕元素時，必須使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。
真空泵（選配）
極限真空：6×10^-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U） 
測量對象狀態：粉末、固體、液體 
同時分析元素：30種元素同時分析 
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
能量分辨率為：140±5ev
分析精度：0.05%（96%）以上 
測量時間：60s-200s（可調） 
制冷方式：電制冷，無需任何耗材 
環境溫度：10℃-30℃ 
環境濕度：35%-70%
輸入電壓：AC 110V/220V
管壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
樣品腔尺寸：334×500×80mm
外觀尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg

標準配置

美國Amptek*SDD探測器 
數字多道分析器 
放大電路、高低壓電源、高效X光管 
計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配） 
軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）

應用領域

黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。 
分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等。