美國Calmetrics 鍍層標準片 膜厚片 薄膜片 校正片 電鍍片

鍍層標準片Ni/XX標準規格（可提供特別訂制）：

鎳NICKEL (Ni)
CSNI4 Ni/XX 4u” (0.10um)
CSNI10 Ni/XX 10u” (0.25um)
CSNI20 Ni/XX 20u” (0.50um)
CSNI40 Ni/XX 40u” (1.00um)
CSNI80 Ni/XX 80u” (2.00um)
CSNI100 Ni/XX 100u” (2.50um)
CSNI120 Ni/XX 120u” (3.00um)
CSNI200 Ni/XX 200u” (5.00um)

CSNI320 Ni/XX 320u” (8.00um)
CSNI400 Ni/XX 400u” (10.0um)
CSNI800 Ni/XX 800u” (20.0um)
CSNI1100 Ni/XX 1100u” (27.5um)

Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。

特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好; X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書）

美國Calmetrics公司是專業生產X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片及RoHS標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。