Zennium XC 型號(hào)電化學(xué)工作站主要技術(shù)參數(shù)：
| ADC 分辨率 | 32 bits ADC, 5aA |
| 交流阻抗頻率范圍 | 10μHz--5MHz |
| 頻率精度 | 0.0025% |
| 頻率分辨率 | 0.0025%，10000 steps / decade |
| 電流 | ±2A |
| 應(yīng)用電位范圍 | ±5V/14V |
| 電壓分辨率 | 2.5nV/7.5nV |
| 輸入阻抗 | 10TΩ, HIZ（option):1000TΩ |
| 交流阻抗測(cè)試精度 | ±0.2% @100mΩ --10 MΩ ±2% @1mΩ--100 mΩ or 10 MΩ--10GΩ |
| 交流擾動(dòng)振幅 | 0-6V 18bit 分辨 |
| 接地模式 | 接地和浮地 ，浮地可以用于接地的實(shí)驗(yàn)體系，例如高壓釜等 |
| IR補(bǔ)償 | 精確的EIS 技術(shù)，實(shí)時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償，補(bǔ)償范圍0--10MΩ |
| 恒電位儀整體帶寬 | 6MHz |
Thales-XT 軟件提供高度靈活的在線，可視化測(cè)試和直觀的離線數(shù)據(jù)分析等功能。
- 功能強(qiáng)大，涵蓋所有應(yīng)用，簡(jiǎn)單易學(xué)
- 實(shí)驗(yàn)方法科學(xué)分類，易于選擇
- 清晰排列的參數(shù)列表，方便設(shè)置
- 實(shí)時(shí)多窗口顯示測(cè)試數(shù)據(jù)
- 實(shí)時(shí)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失
- 測(cè)試結(jié)果可以圖形格式和TXT格式輸出
- 圖形按鈕，執(zhí)行簡(jiǎn)單明了
- 采用拖放方式，放大，縮小，平移，用以移動(dòng)數(shù)據(jù)
- 多組數(shù)據(jù)對(duì)比，編輯顏色和圖例等
- 預(yù)設(shè)多種作圖格式文件以圖形，文本輸出
Thales XT電化學(xué)測(cè)試軟件：
- EIS:恒電位交流阻抗、恒電流交流阻抗、恒電位下的交流阻抗隨時(shí)間變化曲線、恒電流下的交流阻抗隨時(shí)間變化曲線，Mott-Schottky技術(shù)
- NFRA：非線性頻響分析技術(shù)
- Z-HIT 是一個(gè)具有*功能的工具，它提供了一個(gè)非常可靠的方法來(lái)判斷測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)性并對(duì)非穩(wěn)態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。
- CV/IE: 線性掃描、循環(huán)伏安、多重循環(huán)伏安、階梯伏安、線性極化曲線、陽(yáng)極極化曲線、塔菲爾曲線、動(dòng)電位 極化曲線、循環(huán)極化、腐蝕電位隨時(shí)間的變化曲線
- PVI: 恒電流、恒電位、動(dòng)電流、動(dòng)電位、計(jì)時(shí)電流、計(jì)時(shí)電位、電位、電流階躍
- POL 差分脈沖伏安、線性掃描、溶出伏安法
- Battcycling: 電池充放電技術(shù)
- Capcycling: 電容充放電
- GITT PITT 測(cè)試
- RRDE，RDE
- Zahner Analysis: 等效電路解析軟件，擬合，模擬
- IR降自動(dòng)補(bǔ)償：精確的EIS 技術(shù)，實(shí)時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償
環(huán)保在線