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YAMADA山田光學YP-150I/YP-250I鹵素燈高輝度光源裝置
高輝度ハロゲン光源裝置
根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅
等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
5. 型號：YP-150I照度范圍φ30 可對應檢查6寸半導體晶片
型號：YP-250I照度范圍φ60 可對應檢查8英寸半導體晶（通風機可選擇螺旋式風扇或者管道通風型）
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YAMADA山田光學YP-150I/YP-250I鹵素燈高輝度光源裝置
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YP-150I YP-250I鹵素燈光源裝置YAMADA山田光學
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