| 一、gb/t2423 有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成： 1 gb/t 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)a: 低溫 2 gb/t 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)b: 高溫 3 gb/t 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法 4 gb/t 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)db: 交變濕熱試驗(yàn)方法 5 gb/t 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ea和導(dǎo)則: 沖擊 6 gb/t 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)eb和導(dǎo)則： 碰撞 7 gb/t 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒 主要用于設(shè)備型樣品 8 gb/t 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ed: 自由跌落 9 gb/t 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cb: 設(shè)備用恒定濕熱 10 gb/t 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)正弦 11 gb/t 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 12 gb/t 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性 13 gb/t 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 中再現(xiàn)性 14 gb/t 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng) 低再現(xiàn)性 15 gb/t 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度 16 gb/t 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)j和導(dǎo)則: 長(zhǎng)霉 17 gb/t 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ka: 鹽霧試驗(yàn)方法 18 gb/t 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)--試驗(yàn)kb:鹽霧, 交變氯化鈉溶液 19 gb/t 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)kc: 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 20 gb/t 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)kd: 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法 21 gb/t 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) m: 低氣壓試驗(yàn)方法 22 gb/t 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)n: 溫度變化 23 gb/t 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)q:密封 24 gb/t 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)sa: 模擬地面上的太陽(yáng)輻射 25 gb/t 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/am: 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn) 26 gb/t 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/bm: 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn) 27 gb/t 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/amd:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法 28 gb/t 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)t:錫焊試驗(yàn)方法 29 gb/t 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)u:引出端及整體安裝件強(qiáng)度 30 gb/t 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)xa和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬 31 gb/t 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法 32 gb/t 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法 33 gb/t 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 34 gb/t 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/ad: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法 35 gb/t 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/afc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)正弦綜合試驗(yàn)方法 36 gb/t 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)z/bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)正弦綜合試驗(yàn)方法 37 gb/t 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) l: 砂塵試驗(yàn)方法 38 gb/t 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) r: 水試驗(yàn)方法 39 gb/t 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ee: 彈跳試驗(yàn)方法 40 gb/t 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 41 gb/t 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法 42 gb/t 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)正弦綜合試驗(yàn)方法 43 gb/t 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊ea 、碰撞 eb 、振動(dòng)fc和fb和穩(wěn)態(tài)加速度ca等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則 44 gb/t 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)eg: 撞擊 彈簧錘 45 gb/t 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)z/abdm：氣候順序 46 gb/t 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ef：撞擊 擺錘 47 gb/t 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fg: 聲振 48 gb/t 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ff: 振動(dòng)--時(shí)間歷程法 49 gb/t 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fe: 振動(dòng)--正弦拍頻法 50 gb/t 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) 51 gb/t 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ke: 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn) 二、gb2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則 三、gb/t2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ) 四、gb2424 1.gb2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 2.gb/t2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 3.gb/t2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 長(zhǎng)霉試驗(yàn)導(dǎo)則 4.gb/t2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 5.gb/t2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和鏈接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則 6.gb/t2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則 7.gb/t2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 8.gb/t2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分 ：試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則 9.gb/t2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 10.gb/t2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 11.gb/t2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 在清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則 12.gb/t2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬儲(chǔ)存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則 13.gb/t2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則 14.gb/t2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則 15.gb/t2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正 玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 16.gb/t2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則 17.gb/t2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 | 
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