當前位置：上海將來實驗設備有限公司>>公司動態(tài)>>粗糙度儀主要技術指標
主要技術指標：
| leeb430 | leeb431 |
測量參數 | Ra、Ry、Rq、Rz、Rt、RSm、RS、Rp、Rv、R3z、RSk、Rmax、Rmr | Ra、Rz、Rq、Rt |
量程范圍 | ±20μm、±40μm、±80μm | |
zui高顯示分辨率 | 0.001μm | |
濾波方式 | RC、PC-RC、GAUSS、D-P | |
取樣長度 | 0.25mm、0.8mm、2.5mm、 | |
評定長度 | 1L-5L（可選），L為取樣長度 | 5L，L為取樣長度 |
示值誤差 | ≤±10％ | |
示值變動性 | ≤6％ | |
針尖角度 | 90° | |
顯示方式 | 128×64點陣液晶 | |
工作環(huán)境 | 溫度：（10～40） °C，相對濕度：＜90% | |
重量 | 約440g | |
外型尺寸 | 119×47×65mm | |
標準 | ISO、DIN、ANSI、JIS | ISO、GB |
標準配置 | 主機、標準傳感器、電源適配器、多刻線樣板、傳感器護套、支架 | |
可選配 | 曲面、小孔傳感器、深槽傳感器，接長桿，測量平臺，打印機，、PC分析軟件 | |
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