優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司作者

電子元器件失效分析及案例分享
◆發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效問(wèn)題的“千里眼”
在電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天,一顆微小的電子元器件,往往承載著智能設(shè)備的核心功能,但功能失效時(shí)可能成為整個(gè)系統(tǒng)崩潰的引導(dǎo)問(wèn)題并造成損失。在這種情況下,我們需要對(duì)其進(jìn)行失效分析,電子元器件失效分析便是我們發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的“千里眼”。
◆失效≠報(bào)廢,科學(xué)分析能夠找出問(wèn)題降低損失
電子元器件失效:因內(nèi)部或外部環(huán)境因素,導(dǎo)致其電學(xué)特性或物理、化學(xué)性能降低至不能滿足規(guī)定要求的狀態(tài)。
引起失效的原因多種多樣,主要有以下幾類:1.材料、設(shè)計(jì)、工藝;2.環(huán)境應(yīng)力;3.時(shí)間等。為了減少因產(chǎn)品失效導(dǎo)致?lián)p失,建議在電子元器件失效時(shí),對(duì)其進(jìn)行專業(yè)的失效分析并找出失效原因,利于產(chǎn)品改進(jìn)及優(yōu)化。
◆規(guī)范的檢測(cè)流程與方法搭配先進(jìn)的檢測(cè)儀器為產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航
常用的失效分析流程:第一步對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行信息和數(shù)據(jù)收集;第二步對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)方案設(shè)計(jì);第三步試驗(yàn)實(shí)施;第四步結(jié)果分析和驗(yàn)證;第五步進(jìn)行結(jié)果總結(jié)和報(bào)告整理。
常用的分析方法:外觀檢查、功能檢測(cè)、X-RAY檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、切片研磨、開(kāi)封檢測(cè)、OBIRCH檢測(cè)、EMMI檢測(cè)、Delayer檢測(cè)、聚焦離子束FIB等。
常用的分析設(shè)備:3D顯微鏡、特性曲線儀、示波器、X-RAY檢測(cè)儀、超聲波掃描儀、電子掃描電鏡等。
◆線上互動(dòng),共解難題
2025年4月16日,優(yōu)爾鴻信開(kāi)展“電子元器件失效分析及案例分享”網(wǎng)絡(luò)專題研討會(huì),邀請(qǐng)了劉建錦講師,在線詳細(xì)介紹電子元器件的失效分析及相關(guān)案例分享,并即時(shí)為您答疑解惑。
直播間更設(shè)有參與獎(jiǎng)勵(lì)送不停,識(shí)別海報(bào)二維碼預(yù)約直播參與活動(dòng)。

全年征稿/資訊合作
聯(lián)系郵箱:hbzhan@vip.qq.com
- 版權(quán)與免責(zé)聲明
- 1、凡本網(wǎng)注明"來(lái)源:環(huán)保在線"的所有作品,版權(quán)均屬于環(huán)保在線,轉(zhuǎn)載請(qǐng)必須注明環(huán)保在線,http://www.kindlingtouch.com。違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
- 2、企業(yè)發(fā)布的公司新聞、技術(shù)文章、資料下載等內(nèi)容,如涉及侵權(quán)、違規(guī)遭投訴的,一律由發(fā)布企業(yè)自行承擔(dān)責(zé)任,本網(wǎng)有權(quán)刪除內(nèi)容并追溯責(zé)任。
- 3、本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來(lái)源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 4、如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
企業(yè)直播推薦更多>>
產(chǎn)品推薦更多>>
-
型號(hào):S150AF
-
型號(hào):
-
赫爾納供應(yīng)希臘tassis密封管道夾RC-2BS4
型號(hào):RC-2BS6 -
型號(hào):
-
型號(hào):