：潘慧138 159 49 047 ：0523-846 331 28 :288 039 0816涂層測厚儀F1探頭
F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-1250um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+1]um
2. 兩點校準：±[(1～3)%H+1]um
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：凸1.5mm
2. 基體zui小面積的直徑：Ф7mm
3. zui小臨界厚度：0.5mm
- 探頭尺寸：Ф12X47mm
涂層測厚儀N1探頭
N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。
- 工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+1]um
2. 兩點校準：±[(1～3)%H+1]um
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：凸3mm
2. 基體zui小面積的直徑：Ф5mm
3. zui小臨界厚度：0.3mm
- 探頭尺寸：Ф15X73mm
涂層測厚儀F400探頭
TT260選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精確的測量結果和更高的重復性，另外在管材基體直徑較小或者被測區域接觸面積較小時，F400探頭也是*的選擇。
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-400um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+1]um
2. 兩點校準：±[(1～3)%H+0.7]um
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：凸1mm
2. 基體zui小面積的直徑：Ф3mm
3. zui小臨界厚度：0.2mm
- 探頭尺寸：Ф12X55mm
涂層測厚儀F10探頭
TT260選配F10探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：10um
- 測量范圍：0-10000um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+10]um
2. 兩點校準：±[(1～3)%H+10]um
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：凸10mm
2. 基體zui小面積的直徑：Ф40mm
3. zui小臨界厚度：2mm
- 探頭尺寸：Ф27X47mm
涂層測厚儀CN02探頭
TT260選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。
- 工作原理：電渦流 | 分辨力：1um
- 測量范圍：10-200um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+1]um
2. 兩點校準：—
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：平直
2. 基體zui小面積的直徑：Ф7mm
3. zui小臨界厚度：無限制
- 探頭尺寸：Ф16X67mm
涂層測厚儀F1|90探頭
TT260選配F1/90探頭，主要用于管材內壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-1250um
- 示值誤差：
1. 一點校準：±[3%H+1]um
2. 兩點校準：±[(1～3)%H+1]um
- 測量條件:
1. zui小曲率半徑：平直
2. 基體zui小面積的直徑：Ф7mm
3. zui小臨界厚度：0.5mm
- 探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm
