SDEDX600型X熒光光譜儀詳細介紹
X熒光光譜儀SDEDX600型使用高效而實用的正比計數盒探測器，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，加上全軟件控制的自動調整移動平臺和切換準直器的裝置，使儀器操作更人性化、更方便。以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要。
X熒光光譜儀SDEDX600型用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測及金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
一、X熒光光譜儀SDEDX600型的特點：
1、專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
2、內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。
3、一次可同時分析24個元素；
4、針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
5、電制冷硅針半導體探測器，摒棄液氮制冷。
6、智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
7、任意多個可選擇的分析和識別模型。
8、相互獨立的基體效應校正模型。
9、多變量非線性回收程序。
二、X熒光光譜儀SDEDX600型的技術參數：
1、輸入電壓：220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）。
2、環境溫度:15℃—30℃
3、環境濕度：35%—70%
4、外形尺寸：500 mm×400mm×400mm
5、重量：30.5Kg
6、元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U）。
7、測量對象：固體、液體、粉末
8、分析檢出限可達：1ppm。
9、分析含量一般為：1ppm到99.9％。
10、多次測量重復性可達：0.1％。
11、*工作穩定性為：0.1％。
三、X熒光光譜儀SDEDX600型的配置：
1、單樣品腔。
2、二維軟件控制自動移動樣品平臺。
3、激光定位裝置。
4、準直器自動切換裝置。
5、正比計數盒探測器。
6、信號檢測電子電路。
7、高低壓電源。
8、X光管。
