SDThick800AX熒光光譜儀詳細介紹
SDThick800AX熒光光譜儀的技術參數：
1. 金屬鍍層檢出限：0.01μm
2. 同時鍍層分析能力：5層
3. 元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
4. 多次測量重復性可達：0.01μm
5. *工作穩定性為：0.1μm（5μm左右單鍍層樣品）
6. 輸入電壓：220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）
7. 環境溫度:15℃—30℃
8. 環境濕度：35%—70%
9. 樣品腔面積: 517 mm×352mm×150mm
10. 外形尺寸：648mm×490mm×544mm
11. 重量：65Kg
的應用領：
1. 鍍層厚度測量
2. 鍍層和電鍍液含量測定
3. 電鍍業
4. 首飾加工
的配置：
1. 正比計數盒探測器/電制冷Si-PIN探測器。
2. 穩定X光管。
3. 內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。
4. 針對不同樣品選配合適準直器和濾光片。
5. 二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
6. 雙激光定位裝置。
7. 開放式樣品腔。
8. 玻璃屏蔽罩。
9. 信號檢測電子電路。
10. 高低壓電源。
11. 任意多個可選擇的分析和識別模型。
12. 相互獨立的基體效應校正模型。
13. 多變量非線性回收程序。
14. 智能鍍層檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
