本儀器將三根測試探針做成測量探頭，任意兩根針之間絕緣度大于500MΩ，每根探針均有獨立伸縮和加壓機構，因此樣品上無需制備電極。

探針與半導體材料上產(chǎn)生的整流電勢差經(jīng)低噪聲、低飄移集成運算放大器放大后，用液晶顯示器件直接指示型號。

技術參數(shù)

（1）標準確認：可準確判別硅材料導電型號的電阻率范圍：0.05～1000Ω·cm

（2）本儀器實際可測量硅材料電阻率范圍：10-2～104 Ω·cm

（3）可測線度大于5mm的任意形狀的硅塊和硅片，樣品長度、直徑不受限制

（4）顯示方式：由顯示N和P字樣的液晶器件直觀指示半導體材料型號

（5）探針采用耐磨的碳化鎢硬質合金，直徑0.8mm，每根針有獨立的加壓機構，壓力可在50～500克（單針）范圍內根據(jù)用戶需要進行調整

（6）探針間距：1.59mm（探針直徑0.8 mm）或1.00 mm（探針直徑0.5 mm）

（7）外型尺寸：210×100×230（寬×高×深，單位mm）

（8）重量：約3kg

（9）電源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W