本儀器符合以下標準

GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）

GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量（渦流方法）

JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀

測量原理

a)磁性法

當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。

b)渦流法

利用高頻交變電流線圈中產生一磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。

技術參數

●     測量范圍：0-1200um

●     工作電源：兩節五號電池

●     測量精誤差：零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.5

●     公英制轉換：um/mil轉換

●     分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）

●     環境溫度-10-40℃

●     相對濕度≤85%

●     zui小基體10*10mm

●     zui小曲率凸5mm;凹5mm

●     zui薄基體：0.4mm

●     重量：99克（含電池）

●     尺寸102mm*66mm*24mm

儀器配置：

 1、主機                      一臺

2、標準片                                        四片
3、基體                            一塊

4、電池                           兩顆

5、說明書                         一份

6、保修卡                         一張

7、合格證                         一份