產(chǎn)品關(guān)鍵詞：?jiǎn)尉Ч杵瑴y(cè)厚儀、單晶硅片厚度檢測(cè)儀器、單晶硅片厚度測(cè)量?jī)x器、單晶硅片厚度測(cè)試儀

Labthink蘭光的CHY-CA改款型測(cè)厚儀，可用于單晶硅片厚度的檢測(cè)，測(cè)試分辯率高達(dá)0.1微米，*單晶硅片對(duì)厚度高精度測(cè)試的要求；同時(shí)測(cè)試幅面寬度可以達(dá)到400mm，*單晶硅片整個(gè)幅面厚度測(cè)試的要求。CHY-CA改款型測(cè)厚儀除了具備高精度、高效率等特點(diǎn)外，還采用測(cè)量樣品自動(dòng)前進(jìn)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，大大提高了測(cè)試效率，充分滿(mǎn)足用戶(hù)連續(xù)高效測(cè)試的要求，并配有專(zhuān)業(yè)軟件支持，操作方便、人機(jī)交互友好。

Labthink蘭光擁有*的檢測(cè)技術(shù)與專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室，致力于為范圍醫(yī)藥、食品、日化、包裝、印刷、膠粘劑、汽車(chē)、石化、環(huán)境、生物、新能源、建筑、航空及電子領(lǐng)域客戶(hù)提供*秀、zui全面的品質(zhì)控制解決方案。了解更多產(chǎn)品信息，請(qǐng)致電Labthink蘭光。本信息由濟(jì)南蘭光提供