德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀儀器特點(diǎn)：
新型的德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀可測(cè)量鐵質(zhì)材料、奧氏體鋼工件，同時(shí)可用于銅、黃銅、鋁和其它非鐵質(zhì)材料。它按照電位探頭原理操作：一個(gè)帶有四個(gè)彈簧式、鍍金觸針的探頭橫跨于工件裂紋處檢測(cè)。持續(xù)的交流電經(jīng)兩個(gè)探針進(jìn)入工件；另外兩個(gè)探頭測(cè)量電流通過(guò)裂紋底部后電壓的下降值。儀器的交流電利用趨膚效應(yīng)，即電流在導(dǎo)體表面流動(dòng)，因此也就是沿著裂紋的輪廓。操作和測(cè)量值信息是由測(cè)量?jī)x的微處理器控制，*避免了由于錯(cuò)誤的、未*接觸而導(dǎo)致的錯(cuò)誤測(cè)量和誤操作現(xiàn)象出現(xiàn)。德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀檢測(cè)報(bào)告可通過(guò)RS232 串口線從小型打印機(jī)（可按附件提供）打印，也可使儀器同PC 通信（通過(guò)STATWIN 2002 軟件）。
此PC 須使用Windows 操作系統(tǒng)，這樣不僅可以獲得測(cè)量值，而且可提供數(shù)據(jù)管理和圖表顯示。此外，也可新建檢測(cè)報(bào)告或其他文件。
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德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀電位探頭方法裂紋深度的確定是基于對(duì)金屬工件表面兩點(diǎn)的電阻測(cè)量。如果兩點(diǎn)間存在裂紋，
則其電阻值高于無(wú)裂紋時(shí)的電阻值。在未知深度時(shí)阻值將升高。在這個(gè)新方法中，采用了四電極技術(shù)：
電位方法測(cè)量裂紋深度
兩個(gè)電極 Sl 和 S2 產(chǎn)生持續(xù)電流穿過(guò)工件。測(cè)量另兩個(gè)電極Ml 和 M2 之間的電壓值U，其間的電阻值與電壓呈正比。因此，電壓值U 由未知的裂紋深度h，已知的測(cè)量極距離2a，電流極距離2s 和材料的電磁特性決定。如果使用交流電（AC），因趨膚效應(yīng)，電場(chǎng)和電力線就在表面以下區(qū)域通過(guò)。同時(shí)，電流密度增強(qiáng)。下面給出的穿透深度公式是根據(jù)頻率和材料特性得出的。
線形和方形排列的電流（S）和測(cè)量（M）
電位方法的裂紋深度的頻率越高，這種影響就越明顯，電流將沿著裂紋表面流動(dòng)。隨著導(dǎo)線橫截面的減少，可以看到電阻值在增加。由于直流電沒(méi)有趨膚效應(yīng)產(chǎn)生，電流從低阻值處通過(guò)，即沿zui短幾何距離。為了在低的測(cè)量電流的情況下獲得精確的裂紋深度，須采用交流電。低電流將避免燒傷工件表面的接觸部
位，從而保護(hù)了工件表面和檢測(cè)電極。另外，在電池供電的情況下電能消耗將大大降低。因?yàn)橼吥w效應(yīng)增加了橫跨裂紋的電壓下降值，與相關(guān)的傳統(tǒng)儀器相比減少了電極之間的有效電流路徑。因此可以使用小探頭提供高準(zhǔn)確度和精度。即使材料是電的良導(dǎo)體，如高標(biāo)號(hào)鋼或鋁，都能測(cè)量。
傳統(tǒng)儀器的不足
裂紋深度h、測(cè)量電壓和頻率之間是非線性的，也是由不同的電磁特性決定的。這由不同的材料決定，傳統(tǒng)的儀器對(duì)此考慮是不充分的。因?yàn)闇y(cè)量電壓特別小（只有幾個(gè)uV），傳統(tǒng)儀器特別容易受干擾的影響。由于電纜線的位置而產(chǎn)生的感應(yīng)電壓對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也是很普遍的。另外，在探頭接觸表面時(shí)，接觸問(wèn)題無(wú)法控制。探頭的磨損可能導(dǎo)致不可預(yù)知的結(jié)果。傳統(tǒng)的三電極探頭測(cè)量和分開(kāi)的電流觸頭會(huì)引起更多的錯(cuò)誤，因?yàn)殡娏饔|頭的距離沒(méi)有被考慮進(jìn)去。
德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀的新探針：
KARL DEUTSCH 的新探頭由四個(gè)探針組成。在裂紋測(cè)深方面的40 年經(jīng)驗(yàn)和不斷的發(fā)展使我們有了現(xiàn)在的：DE3828552C2！有一個(gè)直探頭和斜探頭。直探頭是采用方形觸針排列，這樣可以測(cè)量非常小的和不平整的表面。
線形和方形排列的電流（S）和測(cè)量（M）
德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀與帶有外部電流觸頭的線形觸頭形狀相比，探針必須置于使裂紋處于測(cè)量和檢測(cè)觸頭中心的位置。這樣，電壓下降路徑可測(cè)量到幾毫米。檢測(cè)和測(cè)量觸頭由彈簧加載、鍍金硬觸尖組成，它保證了*的電氣接觸和要求不高的接觸壓力。
裂紋測(cè)深直角度探頭有一個(gè)三棱形的接觸區(qū)，從而保證了彈簧對(duì)觸針到工件表面施加的壓力。對(duì)每個(gè)針來(lái)說(shuō)都獲得同樣的壓力以使在測(cè)量期間提供穩(wěn)定的結(jié)果。 三棱的接觸面使得在不平整的表面接觸變得簡(jiǎn)單。角度探頭同時(shí)可以在管道內(nèi)壁或其他硬質(zhì)工件表面。
裂紋測(cè)深角度 |
可替換、鍍金的觸針 |
不使用工具就可更換觸針：磨損后，從探頭的導(dǎo)向筒中拔出觸針并更換。探頭本身是免維修的。對(duì)粗糙或氧化表面， 自彎曲觸針是*的結(jié)果：在壓在表面上時(shí)，它們自動(dòng)調(diào)整坐標(biāo)軸。
這樣，窄的，非或弱導(dǎo)電層可被穿過(guò)并安全的接觸到基體。
探頭中內(nèi)置電路包含一個(gè)前置放大器。這樣，測(cè)量信號(hào)可以安全傳送給儀器，另外，記憶單元置于探頭內(nèi)部。它存儲(chǔ)獨(dú)立的探頭數(shù)據(jù)和材料特性。
集成的電路: 前置放大器和特征
RMG 4015的使用方法：
RMG 4015 提供一個(gè)帶有從0mm 到10mm 深度人工裂紋的校準(zhǔn)試塊，這樣用戶可在測(cè)量期間校準(zhǔn)儀器和探頭。探針的磨損或超過(guò)范圍的溫度導(dǎo)致的偏差可通過(guò)再校準(zhǔn)補(bǔ)償。正確的值可以儲(chǔ)存在探頭中。裂紋深度內(nèi)的測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換是由RMG 4015 的微處理器控制的。出廠設(shè)置的校準(zhǔn)表正是出于此目的存儲(chǔ)在儀器中的。測(cè)量之前，將探頭放于工件無(wú)裂紋處，測(cè)量電壓與校準(zhǔn)表中的存儲(chǔ)值相比較。微處理器根據(jù)材料的特殊性來(lái)確定以后測(cè)量裂紋的確切深度。測(cè)量由微處理器監(jiān)控。由于不充分探針的接觸而導(dǎo)致的誤操作、錯(cuò)誤的接觸或探頭的顫動(dòng)是可以避免的。這樣，錯(cuò)誤的結(jié)果幾乎不可能發(fā)生。可以獲得*的測(cè)量再線性性（+/- 0.1mm 100mm 裂紋深度）。即使是低標(biāo)號(hào)鋼或無(wú)滲透（如奧氏體鋼）或高導(dǎo)電的非鐵性材料（如鋁或銅），都能獲得足夠的精度。
RMG 4015 的技術(shù)細(xì)節(jié)與其它傳統(tǒng)儀器相似，通過(guò)工件的電流值為500mA。但是對(duì)比目前那些探頭一旦接觸就產(chǎn)生持續(xù)電流的儀器，RMG 4015 在一次檢測(cè)中只產(chǎn)生持續(xù)幾毫秒的電流脈沖。重復(fù)速率將近一秒一次檢測(cè)。顯示隨之更新。這樣，儀器使用電池時(shí)可以在探頭連續(xù)接觸情況下工作12 小時(shí)。如果使用充電電池，儀器可不必打開(kāi)，電池能通過(guò)外置的充電器充電。薄膜鍵盤(pán)是由按鍵組成，可以直接進(jìn)入儀器的基本測(cè)量功能。許多參數(shù)可以通過(guò)菜單鍵顯示。參數(shù)用清晰的語(yǔ)言顯示（英語(yǔ)或德語(yǔ)）。操作和傳統(tǒng)的壁厚、涂層厚度測(cè)量?jī)x一樣簡(jiǎn)單容易。儀器的數(shù)據(jù)記錄器可以處理超過(guò)3850 個(gè)測(cè)量結(jié)果，可以存儲(chǔ)超過(guò)300 個(gè)獨(dú)立數(shù)據(jù)。內(nèi)置的實(shí)時(shí)時(shí)鐘自動(dòng)記錄測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)量時(shí)間。測(cè)量可通過(guò)系列界面打印出。相同的界面也允許與PC 通信，通過(guò)WINDOWS操作系統(tǒng)的應(yīng)用程序程序“STATUS WINDOWS”。它不僅有傳輸功能，也能處理和圖表顯示測(cè)量值。
除此之外，可以提供檢測(cè)報(bào)告和其他文檔。下載 STATUS Windows 信息頁(yè)和操作手冊(cè) STATWIN2002 采用電位探頭原理的裂紋深度測(cè)量，RMG 4015 具有良好的穩(wěn)定性和簡(jiǎn)便的測(cè)量方法。外形尺寸的減小，探頭的簡(jiǎn)單操作，簡(jiǎn)便易用的程序和低價(jià)格使得RMG 4015 成為一個(gè)費(fèi)用低，簡(jiǎn)單、穩(wěn)定的檢測(cè)儀器。它是磁粉探傷和滲透探傷的有益補(bǔ)充。*使用在價(jià)格較高或大型工件上，工件再加工和裂紋的增長(zhǎng)都需用它控制。
德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀的技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量對(duì)象: 電導(dǎo)體材料的表面裂紋的深度
測(cè)量原理: 電位探頭
尺寸: 83 X 151 X 35 mm
電源: 2 X 1.5 V
連續(xù)工作時(shí)間: 11.5 小時(shí)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ): 處理3850 個(gè)測(cè)量結(jié)果，存儲(chǔ)300 個(gè)獨(dú)立數(shù)據(jù)
測(cè)量范圍: 0...99.9mm
測(cè)量波動(dòng): Fe: 13%, N-Fe: <25%, 鐵的重復(fù)性: +/- 0.1mm
串口線： RS232, 4800 波特
溫度條件: 測(cè)量在0-45 度范圍內(nèi)，存儲(chǔ)在-20-60 度范圍內(nèi)
2014年度報(bào)價(jià)系統(tǒng)，索取
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| EL100經(jīng)濟(jì)型里氏硬度計(jì) | MM-85619-00 | 泰亞賽福 | 7200 |
| EL110經(jīng)濟(jì)型里氏硬度計(jì) | MM-85627-00 | 泰亞賽福 | 7280 |
| EL120里氏硬度計(jì) | MM-85629-00 | 泰亞賽福 | 7600 |
| EL200里氏硬度計(jì) | MM-85631-00 | 泰亞賽福 | 6900 |
| EL300高性能里氏硬度計(jì) | MM-85633-00 | 泰亞賽福 | 9800 |
| EL400高性能里氏硬度計(jì) | MM-85635-00 | 泰亞賽福 | 9400 |
| EL200S軋輥硬度計(jì) | MM-85637-00 | 泰亞賽福 | 8000 |
| HT2000A里氏硬度計(jì) | MM-00363-00 | 美國(guó)杰瑞 | 18600 |
| SH-21超聲波硬度計(jì) | MM-00185-00 | 日本川鐵 | 78000 |
| EH-10超聲波硬度計(jì) | TA-00023-00 | 泰亞賽福 | 46000 |
| EH-20超波硬度計(jì) | TA-00026-00 | 泰亞賽福 | 58000 |
| king便攜布氏硬度計(jì) | MM-00110-00 | 美國(guó)KING | 65000 |
| king便攜布氏硬度計(jì) 配套顯微鏡 | MM-00110-97 | 美國(guó)KING | 11000 |
| king便攜布氏硬度計(jì) 配套硬度塊 | MM-00110-99 | 美國(guó)KING | 3100 |
| N6P系列內(nèi)孔硬度計(jì) | MM-06391-00 | 奧地利埃默克 | 392000 |
| N7N便攜式齒面硬度計(jì) | MM-63010-00 | 奧地利埃默克 | 392000 |
| 1600-OO-RSS 標(biāo)準(zhǔn)表盤(pán)硬度計(jì) | MM-09891-00 | 美國(guó)雷克斯 | 12600 |
| H-1000-A硬度計(jì) | MM-10076-00 | 美國(guó)雷克斯 | 9800 |
| 1076 Basic超聲波測(cè)厚儀 | MM-85685-00 | 德國(guó)KD | 22000 |
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| 1076Data超聲波測(cè)厚儀 | TA-00031-00 | 德國(guó)KD | 25500 |
| 1076TC Basic 超聲波測(cè)厚儀 | MM-83581-00 | 德國(guó)KD | 35600 |
| 1076TC Data 超聲波測(cè)厚儀 | MM-64296-00 | 德國(guó)KD | 31000 |
| 1077Data超聲波測(cè)厚儀 | TA-00007-00 | 德國(guó)KD | 42000 |
| ET100經(jīng)濟(jì)型超聲波測(cè)厚儀 | MM-85639-00 | 泰亞賽福 | 4200 |
| ET310超聲波測(cè)厚儀 | MM-85640-00 | 泰亞賽福 | 5300 |
| ET320超聲波測(cè)厚儀 | MM-85641-00 | 泰亞賽福 | 6200 |
| ET400B超聲波測(cè)厚儀 | TA-00051-00 | 泰亞賽福 | 11000 |
| ET400超聲波測(cè)厚儀 | TA-00042-00 | 泰亞賽福 | 13500 |
| ET400Data超聲波測(cè)厚儀 | TA-00054-00 | 泰亞賽福 | 15300 |
| 2018NFe一體涂層測(cè)厚 | MM-14477-00 | 德國(guó)KD | 8600 |
| 2021 Fe一體涂層測(cè)厚 | MM-83842-00 | 德國(guó)KD | 8600 |
| 2026Fe/Nfe一體涂層測(cè)厚 | MM-17435-00 | 德國(guó)KD | 11000 |
| 2042 Fe 基本型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00033-00 | 德國(guó)KD | 24000 |
| 2042 NFe 基本型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00034-00 | 德國(guó)KD | 24500 |
| 2042 Fe/NFe 基本型涂層測(cè)厚儀 | TA-00035-00 | 德國(guó)KD | 31400 |
| 2042 Fe 統(tǒng)計(jì)型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00036-00 | 德國(guó)KD | 30800 |
| 2042 NFe 統(tǒng)計(jì)型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00037-00 | 德國(guó)KD | 31400 |
| 2042 Fe/NFe 統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀 | TA-00038-00 | 德國(guó)KD | 37300 |
| 2042 Fe統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)型涂層測(cè)厚儀 | TA-00039-00 | 德國(guó)KD | 35700 |
| 2042 NFe統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00040-00 | 德國(guó)KD | 36400 |
| 2042 Fe /Nfe統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)型 涂層測(cè)厚儀 | TA-00041-00 | 德國(guó)KD | 42600 |
| PC-LEPTOSKOP 2050 涂層測(cè)厚儀 | MM-64670-00 | 德國(guó)KD | 17600 |
| MPO涂層測(cè)厚儀 | MM-00066-00 | 德國(guó)菲希爾 | 7800 |
| ET200F涂層測(cè)厚儀 | TA-00048-00 | 泰亞賽福 | 4000 |
| ET210N涂層測(cè)厚儀 | TA-00049-00 | 泰亞賽福 | 4000 |
| ET230FN涂層測(cè)厚儀 | TA-00050-00 | 泰亞賽福 | 4700 |
| ET240FN涂層測(cè)厚儀 | TA-00061-00 | 泰亞賽福 | 6200 |
| ET250FN涂層測(cè)厚儀 | TA-00065-00 | 泰亞賽福 | 6600 |
| ET260FN涂層測(cè)厚儀 | TA-00068-00 | 泰亞賽福 | 4800 |
| 1090BASIC 超聲波探傷儀 | MM-84572-00 | 德國(guó)KD | 149000 |
| 1090DAC超聲波探傷儀 | MM-85552-00 | 德國(guó)KD | 155000 |
| 1090DGS/DAC 超聲波探傷儀 | MM-84574-00 | 德國(guó)KD | 165000 |
| 1095高精度超聲波探傷儀 | TA-00077-00 | 德國(guó)KD |
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| ED350超聲波探傷儀 | MM-85628-00 | 泰亞賽福 | 43700 |
| ED600數(shù)字式超聲波探傷儀 | MM-85630-00 | 泰亞賽福 | 51000 |
| ED400超聲波探傷儀 | MM-85632-00 | 泰亞賽福 | 65500 |
| ED660數(shù)字式超聲波探傷儀 | MM-85634-00 | 泰亞賽福 | 72800 |
| E-35B粗糙度儀 | MM-00013-00 | 日本精密 | 45000 |
| E-40A粗糙度儀 | MM-06071-00 | 日本精密 | 45000 |
| E-45A粗糙度儀 | MM-06074-00 | 日本精密 | 45000 |
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| 130A粗糙度儀 | MM-06087-00 | 日本精密 | 280000 |
| FLEX-50A便攜式粗糙度儀 | MM-05665-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| 480A東精精密粗糙度儀 | MM-06079-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| SURFCOM1400G粗糙度儀 | MM-01415-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| S1500DX3粗糙度儀 | MM-01779-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| ER100袖珍式粗糙度儀 | MM-85614-00 | 泰亞賽福 | 10700 |
| ER200手持式粗糙度儀 | MM-85615-00 | 泰亞賽福 | 22600 |
| ER300粗糙度儀 | TA-00043-00 | 泰亞賽福 | 27300 |
| CONTOURECORD 1600D輪廓度測(cè)量?jī)x | MM-01790-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| C1710DX2輪廓度儀 | MM-01770-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| CONTOURECORD 2600G輪廓測(cè)量機(jī) | MM-02095-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| SURFCOM 1800D 粗糙度輪廓度測(cè)量?jī)x | MM-01793-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| 1910表面粗糙度·輪廓廓形狀測(cè)量機(jī) | MM-00377-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| DEUTROPULS 磁粉探傷儀（220V） | MM-14475-00 | 德國(guó)KD | 17200 |
| DEUTROPULS 磁粉探傷儀（42V） | TA-00081-00 | 德國(guó)KD | 17200 |
| DA400S磁粉探傷儀 | MM-00011-00 | 美國(guó)派克 | 14700 |
| MP-A2L磁粉探傷儀 | MM-00008-00 | 韓國(guó)京都 | 8100 |
| MP-A2D磁粉探傷儀 | MM-00010-00 | 韓國(guó)京都 | 8300 |
| EA400S磁粉探傷儀 | TA-00076-00 | 泰亞賽福 | 6600 |
| EDX-III磁粉探傷儀 | TA-00085-00 | 泰亞賽福 | 8000 |
| EA310PDC磁粉探傷儀 | TA-00071-00 | 泰亞賽福 | 6600 |
| RMG4015裂紋測(cè)深儀 | MM-00036-00 | 德國(guó)KD | 98000 |
| RMG-12裂紋測(cè)深儀 | TA-00084-00 | 泰亞賽福 | 68000 |
| EMIC-1M裂紋指示儀 | MM-01954-00 | 俄羅斯動(dòng)力診斷 | 67000 |
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| EMG-P12裂紋測(cè)深儀 | MM-85260-00 | 國(guó) 產(chǎn) | 53200 |
| MINI-MAX 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀 | MM-00052-00 | 美國(guó)DAKOTA | 78400 |
| TSC-2M-8 應(yīng)力集中磁檢測(cè)儀 | MM-01964-00 | 俄羅斯動(dòng)力診斷公司 | 371000 |
| TSC-1M-4應(yīng)力測(cè)試儀 | MM-64649-00 | 俄羅斯動(dòng)力 診斷公司 | 296000 |
| TSCM-2FM 應(yīng)力集中檢測(cè)儀 | MM-01986-00 | 俄羅斯動(dòng)力 診斷公司 | 245000 |
| DEUTROMETER 3873 磁場(chǎng)強(qiáng)度儀 | MM-85543-00 | 德國(guó)KD | 23600 |
| KD-CHECK滲透劑 | MM-85560-00 | 德國(guó)KD |
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| FLUXA濃縮磁懸液 | MM-02101-00 | 德國(guó)KD |
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| DEUTROMETER II大面積黑光燈 | MM-63326-00 | 德國(guó)KD | 44500 |
| 9803.001熒光磁懸液性 能定量測(cè)試試塊 | MM-85565-00 | 德國(guó)KD | 6700 |
| PH3819 UV-聚光燈 | MM-85573-00 | 德國(guó)KD | 27900 |
| 3814便攜式黑光燈 | MM-85568-00 | 德國(guó)KD | 2800 |
| 3872.601參考磁場(chǎng) | MM-85563-00 | 德國(guó)KD | 9600 |
| 3821.002剩磁計(jì) | MM-85562-00 | 德國(guó)KD | 4000 |
| 6904.002參考試塊 | MM-85567-00 | 德國(guó)KD | 18700 |
| UV-Intensity Meter 黑光強(qiáng)度計(jì) | MM-85570-00 | 德國(guó)KD | 16100 |
| 6904.001熒光磁懸液性能定性測(cè)試試塊 | MM-85566-00 | 德國(guó)KD | 7600 |
| RF-200EGM2 X射線探傷儀 | MM-00138-00 | 日本理學(xué) | 咨 詢 |
| RF-250EGM2 便攜式X射線機(jī) | MM-00128-00 | 日本理學(xué) | 咨 詢 |
| 300EGM2 X射線探傷機(jī) | TA-00083-00 | 日本理學(xué) | 咨 詢 |
| RF-300M3F射線探傷儀 | MM-02765-00 | 日本理學(xué) | 咨 詢 |
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| DC30電火花檢測(cè)儀 | MM-00129-00 | 澳大利亞PCWI | 24000 |
| PosiTestAT-M數(shù)顯液壓 拉拔式附著力檢測(cè)儀 | MM-84480-00 | 美國(guó)DEFELSKO | 29400 |
| F106-3拉拔式附著力測(cè)試儀 | MM-66061-00 | 英國(guó)易高 | 15700 |
| AG-4442光澤度儀 | MM-13533-00 | 德國(guó)BYK | 70600 |
| BYK-6801便攜式色差計(jì) | MM-65818-00 | 德國(guó)BYK | 284000 |
| AW-4846桔皮儀 | MM-07575-00 | 德國(guó)BYK | 945000 |
| AW-4824桔皮儀 | MM-07572-00 | 德國(guó)BYK | 731000 |
| PF-5400杯凸儀 | MM-06625-00 | 德國(guó)BYK | 548100 |
| 62MAX紅外測(cè)溫儀 | MM-85336-00 | 美國(guó)FLUKE | 1210 |
| Fluke ST80+* | MM-84337-00 | 美國(guó)FLUKE | 5456 |
| 3i2ml3u* | MM-67086-00 | 美國(guó)雷泰 | 35640 |
| Ti10紅外熱像儀 | MM-21328-00 | 美國(guó)FLUKE | 58960 |
| TI125熱像儀 | MM-85420-00 | 美國(guó)FLUKE | 82500 |
| Ti25便攜式紅外熱像儀 | MM-84441-00 | 美國(guó)FLUKE | 67100 |
| TI27紅外熱像儀 | MM-38528-00 | 美國(guó)FLUKE | 115000 |
| E40熱像儀 | MM-83703-00 | 美國(guó)FLIR | 67100 |
| DT-315N頻閃儀 | MM-00391-00 | 日本新寶 | 13400 |
產(chǎn)品組 | 產(chǎn)品型號(hào)/名稱(chēng) | 訂貨編碼 | 品牌 | 市場(chǎng)價(jià)（元） |
| VM-63A測(cè)振儀 | MM-01527-00 | 日三理音 | 7800 |
| S-680激光對(duì)中儀/ 聯(lián)軸器對(duì)中儀 | MM-84770-00 | 美國(guó)Hamar Laser | 咨 詢 |
| S-670激光對(duì)中儀/ 聯(lián)軸器對(duì)中儀 | MM-84768-00 | 美國(guó)Hamar Laser | 咨 詢 |
| RONDCOM TOUCH 迷你型圓度儀 | TA-00059-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| RONDCOM 41C 圓柱度儀 | MM-01550-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| R54SD圓柱度儀 | MM-00020-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| R54SD圓度圓柱度測(cè)量機(jī) | MM-05703-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| R71C圓度圓柱度測(cè)量機(jī) | MM-05024-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| SVA800A三座標(biāo)測(cè)量機(jī) | MM-04648-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| SVAfusion9/15/6三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | MM-04916-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| CVA600A三座標(biāo)測(cè)量機(jī) | MM-04565-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| CVA1012A三座標(biāo)測(cè)量機(jī) | MM-04506-00 | 日本精密 | 咨 詢 |
| SPECTRO iSORT手持式光譜儀 | MM-78732-00 | 德國(guó)斯派克 | 咨 詢 |
| SPECTROTEST CCD 移動(dòng)式光譜儀 | MM-78731-00 | 德國(guó)斯派克 | 咨 詢 |
| Belec Compact Port 便攜式直讀光譜儀 | MM-00060-00 | 德國(guó)貝萊克 | 咨 詢 |
| Belec Lab 3000s 緊湊式光譜儀 | MM-00071-00 | 德國(guó)貝萊克 | 咨 詢 |
