二、BDD型半導電層測試裝置的組成和主要參數:
為能準確的完成GB110717—2002附錄A和GB/T3048—2007標準中提出的試驗步驟。本成套裝置由三臺設施組成。
2.1 BDD型半導電層試樣制備機:為取得半圓型交聯電纜試樣而設計,根據試樣外徑大小分為二個型號
試樣線芯直徑mm | 試樣外徑范圍mm | |
BDD—I型電纜試樣制備機 | Ф6—Ф30 | Ф15—Ф55 |
BDD—II型電纜試樣制備機 | Ф8—Ф40 | Ф18—Ф130 |
2.2 BDD型半導電層電阻測試儀,為測試導體屏蔽層和絕緣屏蔽層電阻而設計:
·測試功率: 不超過100MW
·電源對地絕緣電阻: 不小于1012Ω
·電壓表輸入端對地絕緣電阻: 不小于1012Ω
·zui大測量電阻: 2×1MΩ
2.3 BDD型半導電層測試恒溫烘箱,為試樣在90℃恒溫條件下測試電阻而設計:
·有效容積: 450×450×450mm
·一次zui多試樣個數: 4個
·恒溫溫度: 90±1℃
2.4 用戶如果須完成GB3048.3即半導電橡塑材料體積電阻率試驗,須另行訂購半導電橡塑材料體積電阻率試驗儀,結合BDD型半導電層電阻測試儀,即可完成該項目的試驗。