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廣電計量檢測集團股份有限公司

激光光束及波前分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海統彩精密儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號DWC
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質經銷商
  • 更新時間2018/5/14 9:00:00
  • 訪問次數578
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光譜儀、直讀光譜儀、德國光譜儀、SPECTRO光譜儀、球徑儀、三坐標、影像測量儀、專業光學儀器銷售商;上海統彩精密儀器有限公司位于東方明珠中國上海,鄰近于A20外環和上海浦東機場,交通十分便利。是一家專業代理銷售及技術服務為一體的專業化公司,代理銷售多個*的精密測量儀器、檢測專業設備,包括SPECTRO MAXx直讀光譜儀\LTF意大利投影儀\英國Ablink三坐標\TC系列影像測量儀\英國球徑儀\自準之儀等精密測量檢測儀器;公司銷售的相關產品種類多達上萬種,并提供相應的技術服務。 擁有一批*的科技人員,與此同時建立了一支全面的技術服務隊伍。   我們根據用戶的特點及實際使用要求推出規劃、設備配置、設備按裝、人員教育等售前、售中、售后一條龍服務,為用戶提供了*設備及優質服務。我公司所銷售精密檢測設備為個制造業的檢測提供高標準*、在提高產品加工質量、效率、減少成本方面取得了良好的效果! 我公司所銷售的*德國SPECTRO、日本三豐、瑞士TESA、英國Aberlink、德國VGS、英國 STARETT、美國Cimcore等均為高精度、高品質、高速度、高省力的測量檢測設備,所售產品均已通過ISO品質認證。

光譜儀
品名:激光光束及波前分析儀 激光光束分析儀 激光分析儀
產品型號:DWC
產地:法國
品牌:PhaseView
激光光束及波前分析儀 產品信息

 
激光光束及波前分析在制造、醫療、軍事以及科研等領域扮演著重要的角色,應用方向包括激光焊接、激光聚焦和激光通訊等。在這些應用中,激光束型信息可以通過評估光束寬度的瞬時形貌變化以及光束中心點的變化獲得或生成。

對于激光束型和波前的傳統測量方法包括:Shack-Hartmann探測器、CCDCMOS能量探測、掃描狹縫、針孔和刀口等。但上述方法皆受激光器工作方式脈沖或連續、能量、波長等參數的影響和限制。比如頻率低于1kHz的脈沖激光可以通過狹縫掃描的方法測量而刀口切割的方法只能用于連續光束的測量。而在測量重要的光束傳輸參數 M2 時,傳統的方法必須花費大量的時間和精力用于沿光軸搭建和移動探測器逐點測量。而且這些還只是通過測量光強來分析光束的能量分布,對于光束非常重要的波前信息還需要另外使用Shack-Hartmann探測器測量。而Shack-Hartmann探測器在進行波前測量時只能達到大約30 X 30的測量采集點,測量精度較低。綜上所述,通過傳統方法對激光光束進行光強和波前的全面分析時,需要一系列的儀器進行大量測量。
 
相比傳統的激光光束測量儀器,基于DWC技術的GetLase激光光束測量儀具有如下特點:
1.       可同時進行光強和波前測量
2.       測量M2時無需移動任何組件
3.       波前測量采集點達500 X 500以上
4.       可進行激光光束的傳輸分析:任意焦面的能量分布
5.       可進行包括PSFMTF等重要參數的測量
6.       可同時應用于脈沖(Pulsed)和連續(CW)激光器
7.       可應用于UVVISNIRLWIR各波段
8.       對于激光光束的實時監控,可實時顯示光強、波前、PSF
 
Laser Beam & Wavefront Profiling Beam Propagation Analysis Beam Shaping & Beam Monitoring
激光光束&波前分析光束傳輸分析光束束型&光束監測
DWC&GetLase 激光光束及波前分析儀
1.Laser Beam & Wavefront Profiling光束波前分析
 
基于至少500 X 500分辨率的測量采集點,高動態范圍±1500λ@633nm),以及實時的波前分析能力(25Hz視頻采集率DWC&GetLase是非常理想的光束分析儀器。分析軟件可實時輸出波前的3D繪圖、梯度以及條紋度等。光束空間特性可溯源至ISO 13694標準,M2可溯源至ISO 11146標準。光束直徑測量精度優于2%M2測量精度優于4%
 
 
2.Beam Propagation Analysis 光束傳輸分析
 
在光束傳輸方向的多個位置多光束傳輸進行詳細測量和分析。無需移動位置,光束能量的相關特性可由系列虛擬位置面計算得出。可實時監控光束質量。
 
 
3. Beam Shaping & Beam Monitoring 光束修整和監控
 
可精確進行光束監控&束型修整——同時包括光強和相位兩方面——通過與相位空間光路模塊(SLM’s),變形鏡(DM’s)或者其他光束修整和成型設備配合使用。
 
 
 
儀器技術指標:
入瞳:5.9 X 3.1mm   Z向分離:17.5mm
測量采集點:500 X 500 
精度:<0.01λ
靈敏度:<0.005λ
重復性:<0.01λrms
動態范圍:500λ    采集率:zui大15Hz
M2精度:±4%      M2重復性:<2%
光譜范圍:350-1100nm使用Silicon CCD
350&1100nm使用其他探測器
 
附件:提供相關及定制規格的衰減器、中繼鏡、物鏡以及聚焦透鏡等。
 
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