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美國(guó)EIT MICROCUER UV能量計(jì)

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公司名稱深圳市億萊斯儀器有限公司
品牌
型號(hào)MICROCUER
所在地國(guó)外
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2018/5/14 9:00:00
訪問次數(shù)296

產(chǎn)品標(biāo)簽:

美國(guó)EITUV能量計(jì) 紫外分析檢測(cè)儀器

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

有限公司是從事空氣凈化系統(tǒng)工程的專業(yè)公司。集設(shè)計(jì) 、安裝、調(diào)試、運(yùn)行維護(hù)及凈化設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的高科技企業(yè)。公司擁有眾多專業(yè)技術(shù)人才，以*的設(shè)計(jì)水平、優(yōu)質(zhì)的工程施工管理、良好的售后服務(wù)支持和誠(chéng)信的服務(wù)理念，為半導(dǎo)體、微電子PCB光電技術(shù)、光學(xué)儀器、生物工程、醫(yī)藥衛(wèi)生、精細(xì)化工和食品工業(yè)等高科技領(lǐng)域提供10級(jí)-10萬(wàn)級(jí)的潔凈生產(chǎn)環(huán)境。選用德國(guó)EBM高質(zhì)量離心風(fēng)機(jī)，自主研發(fā)、生產(chǎn)FFU、風(fēng)淋室、傳遞窗、超凈工作臺(tái)、高效送風(fēng)口、組裝式超凈生產(chǎn)線等空氣凈化設(shè)備。代理和銷售美國(guó)AAF空氣過(guò)濾器、美國(guó)Met One激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器、川嘉粒子計(jì)數(shù)器、日本KANOMAX粒子計(jì)數(shù)器、美國(guó) SIMCO除靜電設(shè)備、美國(guó)Dwyer壓差表、美國(guó)EIT UV能量計(jì)、德國(guó)TESTO溫濕度計(jì)、中國(guó)臺(tái)灣泰仕照度計(jì)、等無(wú)塵室用系列產(chǎn)品。專業(yè)生產(chǎn)防靜電簾、防靜電窗簾、防靜電卷簾、防靜電門簾、防靜電透明簾、防靜電透明網(wǎng)格簾、防靜電防紫外線窗簾、防靜電黑色網(wǎng)格簾以及防靜電鞋、防靜電衣服、防靜電手套、防靜電棉簽、防靜電手腕帶、防靜電塑膠椅、防靜電臺(tái)墊等防靜電產(chǎn)品．

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選用德國(guó)EBM高質(zhì)量離心風(fēng)機(jī)，自主研發(fā)、生產(chǎn)FFU、風(fēng)淋室、傳遞窗、超凈工作臺(tái)、高效送風(fēng)口、組裝式超凈生產(chǎn)線等空氣凈化設(shè)備。代理和銷售美國(guó)AAF空氣過(guò)濾器、美國(guó)Met One激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器、川嘉粒子計(jì)數(shù)器、日本KANOMAX粒子計(jì)數(shù)器、美國(guó) SIMCO除靜電設(shè)備、美國(guó)Dwyer壓差表、美國(guó)EIT UV能量計(jì)、德國(guó)TESTO溫濕度計(jì)、中國(guó)臺(tái)灣泰仕照度計(jì)、等無(wú)塵室用系列產(chǎn)品。專業(yè)生產(chǎn)防靜電簾、防靜電窗簾、防靜電卷簾、防靜電門簾、防靜電透明簾、防靜電透明網(wǎng)格簾、防靜電防紫外線窗簾、防靜電黑色網(wǎng)格簾以及防靜電鞋、防靜電衣服、防靜電手套、防靜電棉簽、防靜電手腕帶、防靜電塑膠椅、防靜電臺(tái)墊等防靜電產(chǎn)品．

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美國(guó)UV能量計(jì)

美國(guó)EIT MICROCUER UV能量計(jì) 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品描述：

Features:
Small Size: 1.3" x 0.95" x 0.25"
Lightweight: 0.33 ounces
Measures total energy density in Joules/cm2
Measures peak irradiance in Watts/cm2
Battery powered
High sample rate: 2000 Samples per second
Automatic operation
High temperature resistance
Applications:
UV applications requiring small size and automatic operation
Small container curing （bottles, cans, etc.）
Three-dimensional objects
Web printing
Very small conveyorized and batch applications （semiconductor printing, small part bonders, etc.）
Statistical Process Control measurements