XRF光譜儀XRF測試儀EDXRF
納優(yōu)品牌XRF用途廣泛，實用性強。
可用作ROHS檢測，無鹵分析，合金分析，以及鍍層測厚等等
XRF光譜儀，ROHS
：（徐生）:
采用納優(yōu)技術的全新光路設計，顯著抻高分析精度和數(shù)據(jù)可靠性，減小灰色地帶區(qū)間，節(jié)省外送檢測成本；
行業(yè)內(nèi)zui全配置的12組濾光片（行業(yè)內(nèi)一般配置≤8組），實現(xiàn)zui大自動精度選擇空間。
提供開放式工作曲線標定技術平臺，可為用戶量身定做*的有害物質檢測和控制方案；
全自動一鍵式操作－載物平臺、樣品室、準直器、濾光片、照射光斑定位等全部自動操作；
測試時間在100－400秒間自行設定（系統(tǒng)自動默認設定200秒）；
經(jīng)典可靠的迷宮式輻射防護結構，結合軟硬件多重保護，確保輻射安全性能；
測量元素范圍：Na-U.
• 自選式功能組合 用戶根據(jù)自己的控制要求，可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件（二選一）
• 全自動配置 全自動化的操作模式、人性化的操作界面，測試人員通過鼠標即可完成全程操作（原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇全部實現(xiàn)自動化控制，程序會根據(jù)預先設定的測試條件自動進行所有的切換動作）；
• 照射區(qū)精確控制系統(tǒng) 可精確調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實現(xiàn)了對測試區(qū)域的準確把握。從根本上保證測試數(shù)據(jù)與實際檢測區(qū)域的*對應。
• 成熟、經(jīng)典的分析方法： 憑借國家“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應用經(jīng)驗的經(jīng)典數(shù)學分析模型，為測試者提供可靠、精準、穩(wěn)定的分析結果。
• 強大的軟件功能
1、分析軟件可根據(jù)樣品材質、形狀、大小的不同自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度；
2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每家用戶量身定做*的有害物質檢測和控制方案；
3、融合了一系列*的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton（準牛頓）優(yōu)化算法等。
XRF光譜儀XRF測試儀EDXRF
