該沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜置制冷，熱交替沖擊方式，使用于電子零部件測(cè)試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測(cè)試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測(cè)品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門打開(kāi)，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開(kāi)，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如有需要，還可以與環(huán)境溫度連通（通過(guò)后風(fēng)門打開(kāi)來(lái)實(shí)現(xiàn)）形成三箱法試驗(yàn)。
特點(diǎn)
　　試件（待測(cè)品）靜止不動(dòng)，使用戶避免了因試件移動(dòng)帶來(lái)的諸多不便。
規(guī)格
·溫度范圍：-65～+200℃
·冷熱沖擊范圍：-55～+125℃
·溫度波動(dòng)度：±1℃
·溫度偏差：±3℃
·恢復(fù)時(shí)間：5分鐘
·電源：380V、50Hz三相四線制