（LQS）鋁膜測厚儀庫號：M334408（LQS）鋁膜測厚儀庫號：M334408本產(chǎn)品主要適用于薄膜、紙張等非金屬軟包裝材料上鋁層厚度的測量，隨著新型包裝材料的發(fā)展，要求阻透性薄膜上真空沉積大約35nm的鋁涂敷層，因而提高了薄膜對氣體的阻透性，鋁膜的厚度直接影響膜阻透性，因而測試和控制鋁膜厚度尤為重要，該產(chǎn)品調(diào)整參數(shù)還可對金、銀等其他金屬涂層的測量。
本產(chǎn)品按照國標GBT4957-2003渦流法原理制造，采用現(xiàn)在流行的觸摸屏操控技術(shù)，產(chǎn)品新穎，具有測量精度高、穩(wěn)定性好，既有直觀厚度讀數(shù)又有傳統(tǒng)方歐顯示。厚度標準由中國計量科學(xué)研究院測定，方歐參照GBT15717-1995電阻法，采用4294A型阻抗分析儀測定，方歐值能符合進口生產(chǎn)設(shè)備上方歐顯示。
技術(shù)指標
量程范圍： 90-800 Å（用戶需要量程可擴大到2000 Å）
方阻： 95-0.47Ω/□
分辨率： 1埃
測量準確度： ≤±2%（F.S）
讀數(shù)重現(xiàn)性（同一測試點）： 10埃
應(yīng)用對象 ： 軟包裝新材料

注：1微米＝1000納米＝10000 Å本產(chǎn)品主要適用于薄膜、紙張等非金屬軟包裝材料上鋁層厚度的測量，隨著新型包裝材料的發(fā)展，要求阻透性薄膜上真空沉積大約35nm的鋁涂敷層，因而提高了薄膜對氣體的阻透性，鋁膜的厚度直接影響膜阻透性，因而測試和控制鋁膜厚度尤為重要，該產(chǎn)品調(diào)整參數(shù)還可對金、銀等其他金屬涂層的測量。
本產(chǎn)品按照國標GBT4957-2003渦流法原理制造，采用現(xiàn)在流行的觸摸屏操控技術(shù)，產(chǎn)品新穎，具有測量精度高、穩(wěn)定性好，既有直觀厚度讀數(shù)又有傳統(tǒng)方歐顯示。厚度標準由中國計量科學(xué)研究院測定，方歐參照GBT15717-1995電阻法，采用4294A型阻抗分析儀測定，方歐值能符合進口生產(chǎn)設(shè)備上方歐顯示。
技術(shù)指標
量程范圍： 90-800 Å（用戶需要量程可擴大到2000 Å）
方阻： 95-0.47Ω/□
分辨率： 1埃
測量準確度： ≤±2%（F.S）
讀數(shù)重現(xiàn)性（同一測試點）： 10埃
應(yīng)用對象 ： 軟包裝新材料

注：1微米＝1000納米＝10000 Å