方塊電阻測試儀 型號:TZH24-ST21

庫號：M368394       

方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核；用基準電源和運算放大器組成穩流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
◆ 特點：
1
采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2
以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3
采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4
體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5
之手握式探筆，球形探、鍍金探接觸被測材料及保護薄膜

6
探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術指標：
測量范圍
按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源
測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器
量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度
在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探探頭規格
間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源
9V疊層電池1節