高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)（三箱式）是一款可實(shí)現(xiàn)高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存，高低溫循環(huán)儲(chǔ)存濕度儲(chǔ)存等測(cè)試條件的老化設(shè)備，在實(shí)驗(yàn)中加快產(chǎn)品的老化情況，以便客戶完善產(chǎn)品質(zhì)量與性能。
（圖片僅供參考，具體以實(shí)物為準(zhǔn)）
型號(hào)：TH -1500-ZH
產(chǎn)品用途：太陽(yáng)能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下*操作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test（溫度循環(huán)測(cè)試）、Humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）、Damp Heat（濕熱測(cè)試），以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳?滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)規(guī)范：（IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513 ,IEC61730 ） 的要求才行。、
相關(guān)規(guī)范資料介紹：
硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535
薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513
Humidity-freeze test（濕冷凍測(cè)試）
目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
| 溫度循環(huán)比較 | 低溫 | 高溫 | 溫變率℃/h | 駐留時(shí)間 | 循環(huán)數(shù) |
| IEC61215 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
| GB9535 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
| IEC61646 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
| GB18911 | -40±2℃ | 85±2℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
| UL1703 | -40±2℃ | 90±2℃ | zui大120℃/h | 30～105min | 200 |
| IEC62108 | -40±2℃ | 65℃、85℃、110℃ | 10cycle/day | 10min | 500、1000、2000 |
| IEC62108 | -40℃ | 65℃、85℃、110℃ | 18cycle/day | 10min | 500、1000、2000 |
| IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | 0.9～7.5℃/min | zui少10min | 250、500 |
| IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 100、200 |
| IEEE1513 | -40℃ | 60℃、90℃ | zui大100℃/h | zui少10min | 50、200 |
Damp Heat（濕熱測(cè)試）
目的：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ，目的：確定模塊抵抗?jié)駳?滲透之能力。
| 溫度循環(huán)比較 | 高溫高濕 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) |
| IEC61215 | 85℃/85±5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（100℃/h） | 10 |
| GB9535 | 85℃/85±5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（100℃/h） | 10 |
| IEC61646 | 85℃/85±5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（100℃/h） | 10 |
| GB18911 | 85℃/85±5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（100℃/h） | 10 |
| UL1703 | 85℃/85±2.5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（120℃/h） | 10 |
| IEEE1513 | 85℃/85±2.5%（20h） | -40℃（0.5～4h） | 高溫升降溫（100℃/h） | 20 |
硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535
薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513
本試驗(yàn)設(shè)備適用：
電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲(chǔ)
存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
本試驗(yàn)設(shè)備禁止：
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
測(cè)試環(huán)境條件
環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下
GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn)
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷
IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱.
GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10586-1《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.
GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法》.
IEC 61215 太陽(yáng)能電池組件標(biāo)準(zhǔn)。
IEC 61646 太陽(yáng)能薄膜電池組件標(biāo)準(zhǔn)。等……
制冷系統(tǒng)：
壓縮機(jī)過熱
壓縮機(jī)過流
壓縮機(jī)超壓
冷凝風(fēng)機(jī)過熱
壓縮機(jī)油壓保護(hù)
總電源相序和缺相保護(hù)
漏電保護(hù)
加熱加濕干燒保護(hù)
過載及短路保護(hù)
超溫?cái)嚯姳Ｗo(hù)
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)（三箱式）是一款可實(shí)現(xiàn)高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存，高低溫循環(huán)儲(chǔ)存濕度儲(chǔ)存等測(cè)試條件的老化設(shè)備，在實(shí)驗(yàn)中加快產(chǎn)品的老化情況，以便客戶完善產(chǎn)品質(zhì)量與性能。
公 司： 東莞市正航儀器設(shè)備有限公司
地 址: 廣東省東莞市南城元美管理區(qū)
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傳 真: : @189.com
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