高效液相色譜儀梯度系統TC-HDLC-10
在分析分離保留范圍很寬的復雜樣品時，必須采用梯度洗脫技術。本產品的高效液相色譜梯度洗脫系統，只要
在等度配置的基礎上，再增加一個輸液泵，則可以升級為二元梯度洗脫系統。該系統能解決液相色譜分析中的
一般性洗脫問題，滿足研究機構和生產廠家對儀器設備的需求。
高效液相色譜儀梯度系統TC-HDLC-10
特性：
● 泵運行及梯度混合均由軟件全程控制。
● 機內動態混合，zui大限度地保證了分析精度和重現性
● 等度分析無需對系統結構作任何改動
● 積木式結構，可方便改裝成為兩套單元系統
技術參數：
高效液相色譜儀梯度系統/色譜儀 型號：TC-HDLC-10
色譜柱CenturySIL ODS2 5μm
規 格（200×4.6）mm
流動相A：0.05M KH2PO4pH 5.0/CH3CN（99.1）
B：0.05M KH2PO4pH 5.0/CH3CN（80.20）
92%A洗脫6.5min，在25min內A由92%至0%，0%A保持15min
流 速1.0mL/min
波 長254nm
樣 品阿莫西林鈉注射液
電 源AC220V±22V 50Hz±1Hz 300W
高效液相色譜儀梯度系統/色譜儀 型號：TC-HDLC-10
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產品名稱：磚回彈儀
產品型號：HT-75B
磚回彈儀型號：HT-75B
說明
符合GB/T50315-2000 標準。本儀器于無損檢測燒結 普通磚的強度，同樣適合于輕骨料混凝土及
其他輕質材料的強度檢測。
特點
1）中心導桿采用進口材料，精度高、耐磨損；
2）殼體采用高分子復合材料，彈性高手感高，避免現場作業損傷儀器，延長使用壽命；
3）指針滑塊采用外置式簧圈結構，既便于摩擦力調整，又能保 證指針軸與指針滑塊摩擦力的均勻，
確保儀器的度。 相對同行產品性價比好，度高，使用壽命長。特別適合 小型磚廠使用。
技術參數
標稱沖擊動能：0.735J
彈ji錘沖程：75mm
指針滑塊的靜摩擦力：0.5N±0.1N
彈擊桿球面曲率半徑SR：25mm±1mm
鋼砧率定回彈值：74±2
外形尺寸：Φ54*268mm
重量：≈1Kg
> <table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" style="margin:0px; padding:0px; width:
產品名稱：電阻率方塊電阻測試儀
產品型號：KDB-1
本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒流源開關，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。
儀器性能
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探針壓力：25g～250g；
探針曲率半徑：25μm～450μm
（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定制）；
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續可調
（100mA檔） 8～36V連續可調
（1000mA檔） 8～15V連續可調；
測量方式：手動或自動（配置測試軟件）；
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。
