上海艾測(cè)電子科技有限公司

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鹽霧腐蝕性試驗(yàn)箱

該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在人工模擬的海洋性氣候（鹽霧）條件下，對(duì)產(chǎn)品的

物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以

便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用系列鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)要求加工而成，廣泛適用

于對(duì)金屬材料的保護(hù)層、電子器件、工業(yè)產(chǎn)品、電工電子材料、零部件、各種材質(zhì)之表面電鍍、噴涂、防銹油等防腐

蝕處理后，

鹽霧腐蝕性試驗(yàn)箱

測(cè)試其制品之耐腐蝕性，及其它開(kāi)發(fā)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。本產(chǎn)品主要模擬海洋性氣候，適用于考

核材料、產(chǎn)品及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較。模擬海洋性氣候的人工加速測(cè)試試

驗(yàn)。等進(jìn)行加速鹽霧腐蝕試驗(yàn)，可按GJB150，GB2423、17-93《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》以

及相等效的IEC、DIN、MIL、ASTM等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各種鹽霧試驗(yàn)。

 

產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)；GB10587—89、GB2423.17—93、GB/T 4797.6-95、T5170.8—96、IEC68—2.11及ISO標(biāo)準(zhǔn),參照

CNS3627、3885、4159、7669、JISD—0201、H8610、Z2371、IS3768、3769、3770、GJB150等標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，可進(jìn)行A：中

性鹽霧試驗(yàn)NSS. B：乙酸鹽霧試驗(yàn)ASS. C：銅鹽加速乙酸鹽霧試驗(yàn)CASS等試驗(yàn)。

 

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：本設(shè)備可按GJB150、GB10485、GB2423、17-93《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》以及

相等效的IEC、DIN、MIL、ASTM等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各種鹽霧試驗(yàn)。

還具有能自動(dòng)記錄循環(huán)使用的記錄儀功能；并對(duì)其循環(huán)的溫度可以平滑調(diào)整升溫速律和開(kāi)停自動(dòng)定時(shí)或連續(xù)控制，是

理想的試驗(yàn)設(shè)備。