技術指標
zui大稱量值 220g
精細量程的zui大稱量值 81g
可讀性 0.1mg
精細量程的可讀性 0.01mg
重復性：正常加載（sd） 0.06mg（200g）
重復性：微量加載 0.05mg（10g）
重復性：精細量程微量加載 0.015mg（10g）
線性 0.15mg
四角誤差 0.25mg（100g）
靈敏度漂移 2.5x10-6
靈敏度溫度漂移（10-30°C） 1x10-6/°C
接口更新速率 23/s
天平外型尺寸（W×D×H mm） 263×486.5×322
秤盤尺寸（W×D mm） 76×73

XP205DR電子分析天平

XP超越系列型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

紅外感應器（SmartSense），實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等
彩色智能觸摸屏（SmartScreen），實現安全，便捷的天平操作
網格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準確稱量結果
水平控制系統（LevelCControl）, 在天平偏移水平位置時提供警告提示功能
易巧稱量組件（ErgoClip），滿足使用不同容器的稱量需求
用戶管理工具（UserManagement），可以獨立設置操作者的使用權限
MinWeighzui小稱量值功能，提供符合規范的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活）
天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確
ProFACT專業級全自動校準技術，溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得精確稱量結果
*可拆卸、清洗的防風罩設計，實現快速清潔
高度可調節的內置防風罩，確保精確稱量結果
可移動、分離的顯示控制終端，方便天平使用
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備
顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕
6種內置應用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統計功能、公事稱量