• 構建于精密鑄造的底板上，對針定位適合所有光學部件
• 單塊棱形轉動鏡通過銷釘固定于底板上的相應位置，實現*穩定性，無需再進行校準
• 標準  Monoflect*雙檢測器光學器件具有計算機化選項（前部或后部檢測器位置）
• 可以在主光譜儀和 AEM 檢測器位置間互換 Nicolet FT-IR 精密的預先校準檢測器，無需再重新校準
• 輔助吹氣端口增加了吹氣靈活性
• *的 Smart Purge*選項可以在更換樣品時快速恢復吹氣
• 密封式脫水光學器件選件可實現靈活的無吹氣操作

Accessory Option
大型附件或長期實驗所接附件（如長光程氣池、TGA-IR interface）非常適合配有 AEM 的 Nicolet FT-IR 系統。 通過將附件*安裝在 AEM 樣品室，可以將 AEM 于特定進樣技術，以便光譜儀樣品室可以進行更多靈活進樣。

• 大樣品室適用于智能型 Smart Accessories*，可以自動進行識別、縮短制備時間
• 此外，還可容納任何標準的底板安裝式進樣附件
• 附件*可以在 AEM 和光譜儀樣品室之間互換

AEM Optics
Baseplate: 精密鑄造的 Stabilizer*底板帶有預先校準的銷釘固定位置，適用于左側或右側光學配置及樣品室底板
Cover:獨立裝置包括右側或左側光束孔道和標準吹氣快門； 閂鎖式樣品室蓋板
System Purge/Seal:  樣品室吹氣端口和附件； 吹氣和/或密封、脫水配置； 可選 Smart Purge 恢復系統
Mirror Optics: 專有單塊棱形轉動鏡通過銷釘固定于相應位置
Sample Compartment: 大樣品室（長：21cm，寬：× 26cm，高：× 18cm）； 以銷釘固定的全尺寸底板和 E.S.P. 辨識晶片可以接受傳統 E.S.P. 和 Smart 附件； 雙槽、高度可調的玻片樣品架； 樣品室檢測器輸入、控制總線和兩個輔助接頭，實現自動附件控制
Detector Optics:  標準 Monoflect 計算機化雙前部、后部內部檢測器位置； 預先校準、以銷釘固定的位置，便于輕松交換檢測器，
無需再進行校準； 統一校準的檢測器，可以在 AEM 和主要系統位置間自由互換，無需再重新進行校準
 

• DLaTGS/KBr （12500 to 350cm^-1）
• DLaTGS/Csl （6400 to 200cm^-1）
• Silicon （25000 to 8600cm^-1）
• PbSe （13000 to 2000cm^-1）
• InSb （11500 to 1850cm^-1）
• MCT-A （11700 to 600cm^-1）
• MCT-B （11700 to 400cm^-1）
• DLaTGS/PE （700 to 50cm^-1）
   

Mounting:專有 Lock-in-Line&asterisk; 光譜儀連接方式，提供以銷釘固定的*性校準位置； 可配置到光譜儀右側或左側

AEM 兼容所有 Nicolet FT-IR、Nicolet Nexus*、Magna-IR* 和 Protg*光譜儀。 它也可以結合 Thermo Scientific 外部進樣設備使用，如：GC Interface、Nicolet Continuμm* IR  顯微光譜儀、PEM 與 FT-Raman 模塊。

Warranty and Service Offering: 包括標準保修服務。

Certifications: ISO 9001:2000CE