ELEMENT2 高分辨電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）
ELEMENT 2 ICP-MS是高性能、雙聚焦磁場ICP-MS。高性能、雙聚焦磁場ICP-MS，優化以提供易用性、穩定性和生產率。
ELEMENT2將強大的技術結合的靈敏度和信噪比，以解決特定問題。
ICP-MS是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業到地質和環保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MSzui嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的*標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
多元素分析
- 多元素檢測器具備處理瞬態信號（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度
- 從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
- 與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容
全自動的常規分析
- 自動調節所有參數，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統設置
- 全面、可定制的質量控制系統
- 可靠耐用，可作為全年無休的生產控制工具，zui大化樣品通量
具有靈活性和易用性的*研究工具
- 擁有權限進入方法開發的所有儀器參數
- 具有高質量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜
- 無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測
- 熱和冷等離子體狀態
- 高穩定性的同位素比
