空氣質(zhì)量檢測儀
光譜/色譜/分光光度計(jì)
光纖光譜儀系統(tǒng)Mexpert
MexpertTM系列產(chǎn)品是世界的多功能全光譜薄膜測試系統(tǒng),專門用于測量半導(dǎo)體、光學(xué)鏡片等各類樣品薄膜的多種光學(xué)指標(biāo),如:透射率、反射率、薄膜厚度以及霧度等。內(nèi)建光源,三維樣品臺,顯微聚焦功能和精確頂點(diǎn)定位機(jī)制。標(biāo)準(zhǔn)USB2.0/1.1接口,反射率檢測軟件,既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測,又有外接探頭選項(xiàng)可以現(xiàn)場檢測大面積高曲率等特殊界面。
MexpertTM系列的薄膜測試基于白光反射及干涉原理,它通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,再運(yùn)用專業(yè)的應(yīng)用軟件運(yùn)算得到薄膜材料的厚度d,折射系數(shù)n,消光系數(shù)k。
特點(diǎn):
• 高性能512元線性PDA陣列光譜儀式,優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
• 紫外可見到近紅外的全寬光譜波段
• 大功率、高穩(wěn)定照射光源可選
• 16位AD,USB2.0接口
• 特殊半透鏡技術(shù),能高效收集試樣表面反射光,避免底部反射光影響,提高測試精度
• zui大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率
• 外置式探頭可選,豐富的測量平臺,適用于大多數(shù)大面積、高曲率、現(xiàn)場特殊環(huán)境監(jiān)測
技術(shù)指標(biāo):
波長覆蓋范圍 | 250-800nm,380-1000nm,380-1700nm |
光譜分辨率 | 0.5-5nm |
可測膜厚 | 20nm-40μm |
光源 | 鹵鎢燈,氘燈,氙燈 |
光斑尺寸 | 50μm |
樣品曲率半徑 | -1R~-∞ ,:+1R~+∞ |
重現(xiàn)性 | ±0.01% |
測量時(shí)間 | 3-65535ms |