光纖光譜儀Glacier X
Glacier™ X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比，Glacier™ X可以提供更高的動態范圍，更顯著的降低光譜儀的噪聲，更優異的穩定性，更適合微光檢測和長時間連續監測等應用。它的zui低檢測波長可達200nm，zui高可達1050nm。根據不同的配置，光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應用支持，使其成為眾多的微光檢測、長時間光譜檢測應用需求的理想選擇。
Glacier™ X采用2048像元檢測器，內建16位數字轉換，高速USB2.0即插即用數據接口。
B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應用需求OEM客戶的特殊要求。
特點：
• 紫外-近紅外波段
• 0.6nm - 4.0nm 光譜分辨率
• TE致冷/控溫
• 16位數字轉換
• 500 kHz 讀出速度
• 即插即用USB 2.0數據傳輸
• 提供OEM版本
應用：
• 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用
• 長積分檢測
• 吸光度測量
• 反射率測量
技術參數：
| 直流輸入 | 5V DC < 1.5 A |
| 交流輸入 | 100 - 240V AC 50/60 Hz, 0.5A @ 120VAC |
| 檢測器類型 | 響應增強的 2048 元線陣硅基CCD 陣列 |
| 像元 | 2048 × 1 像元 @ 14µm × 200µm 每個像元 |
| 光譜儀F# | 3.2 |
| 光譜儀光路 | Crossed Czerny-Turner |
| 動態范圍 | 300:1 |
| 數字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 讀出速度 | 500 kHz |
| 數據傳輸速度 | 高達180譜/秒（USB 2.0） |
| 積分時間 | 5 ~ 65,535ms × 乘法器 |
| 外觸發 | Aux Port輔助端口 |
| 操作溫度 | 15-35℃ |
| 相對濕度 | 85% ，無冷凝 |
| TE 致冷 | 14℃ |
| 重量 | 0.60 kg |
| 尺寸 | 127mm × 39mm × 91mm |
| 計算機接口 | USB 2.0 / 1.1 |
| 操作系統 | Windows XP, Vista （32-bit）, Win 7 |
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