| 安捷倫氦質譜檢漏儀 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1972 年由瓦里安公司首先在氦質譜檢漏儀的設計中提出了逆流式的概念，使得目前的氦質譜檢漏儀全部采用逆流式的方法進行檢漏。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 瓦里安的發明之一，優點在于： | | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ·極大的排氣量 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ·前級耐壓高達 18mbar | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ·壓縮比提高了幾個數量級卻絲毫不增加泵的體積和重量，對質量輕的氣體更為顯著。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| VＳ系列氦質譜檢漏儀 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 特性及優點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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深圳市利方達科技有限公司由留德博士錢鋒創建于2002年,是一家集真空產品研發,生產及貿易以及維修服務為一體的企業集團 ,公司目前集中了一批多年從事真空和真空鍍膜專業的技術人員和經驗豐富的市場銷售人員,力致于為客戶提供更優質的產品與服務。 主要業務包括代理銷售國外產品:美國英福康（Inficon）的石英晶體膜厚控制儀，氦質譜檢漏儀，四極質譜殘余氣體分析儀，各種真空計，真空閥門； 美國Brooks的低溫泵，真空計；日本日立公司的質量流量計（原美國AE公司的FC7700CD系列流量計），日本Horiba的質量流量計，美國安捷倫Agilent（原瓦里安）公司的英國愛德華公司分子泵,機械泵,干泵,真空計,檢漏儀,各種真空閥門和檢漏系統; 美國泰利瑪科公司(Telemark)的電子槍和光學膜厚控制儀等;美國安斯超科學公司(Angstrom)的磁控濺射陰極,濺射靶材；美國薄膜中心 （Thin film center）的核心麥克勞德(Essential Macleod)光學薄膜分析與設計的軟件，美國Extorr公司的四極質譜等產品。
安捷倫氦質譜檢漏儀 產品信息
