TX3300全反射X射線熒光光譜儀是浪聲科學經過多年XRF技術沉淀,專門設計研發用于痕量元素分析的便攜式光譜儀,利用全反射X射線的原理,以極低的背景噪聲和高靈敏度,可快速針對液體、懸浮液、固體和污染物,進行多元素痕量分析,為痕量元素分析領域提供了一種高效率、低成本的解決方案。
TX3300體積小巧,便于攜帶和運輸,非常適合野外分析或移動實驗室的需求。具有高性能、易用性、環保性和經濟效益等特點,是科研、質量控制和環境科學等領域分析工具。
· 更高的硬件配置
· 更低的檢出下限
· 更加的小巧便攜
· 更低的運營成本
· 廣泛的應用領域
使用優勢
μL/ng級極少量樣品分析
該方法只需極少量的樣品即可進行準確分析,非常適用于樣品量有限的情況。
多元素同時分析
儀器可以同時檢測鉻、鉛等8大主要重金屬元素,也可以根據檢測需求進行元素擴展,分析近30個元素,大大節省了分析時間。
檢出限低至ppb級
儀器突破傳統XRF檢出限,檢出限低至ppb級,揭示微量元素的無限可能。
僅需2min處理時間
僅需2分鐘的處理時間,無需校準、無需消解,為現場分析提供了極大的便利和效率。
輕便易攜
儀器體積小巧,重量輕,便于攜帶和運輸,使用人員可以輕松地攜帶TXRF儀器到現場進行快速、準確的元素分析,無需將樣品帶回實驗室,從而大大提高了工作效率。
本土化服務
國內生產廠家能夠提供更快速的售后服務和技術支持,確保用戶在使用過程中的問題能夠得到及時解決。
一鍵智能操作
具備用戶友好的操作界面,使得操作簡單、直觀,即便是非專業人員也能輕松掌握。
低背景噪聲
X光束以掠射角照射樣品,降低了散射和熒光背景,實現了更低的背景噪聲,檢測低限可降低幾個數量級。