產品描述
動態參數測試系統硬件優勢:
1. 采用高分辨率的12 bit 示波器:正確反映波形的細節,并準確計算出參數
2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統,解決SIC/GAN的 測試難點
3. 高帶寬的電壓和電流探測,彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求
4.可以滿足上/下管測試,避免頻繁連接探頭
5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
6.器件驅動設計支持SIC/GAN器件
7.系統帶寬:>400MHz
8. 系統可以定制
動態參數測試系統軟件特點:
1.測量參數齊全:開關參數、短路參數、反向恢復參數
2.支持器件類型多:單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3.測試方式:單脈沖、多脈沖
4. 離線數據分析:既可以在線測量,也可以記錄數據離線分析
5.測試UI符合工程師的使用習慣
6.測量項目及器件支持擴展
系統參數:
● 測量電壓:標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流:標配200A,覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流:2000A
● 測量參數:Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目: 開關參數、短路參數、反向恢復參數、安全工作區等
● 測量器件:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統帶寬:350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道:4CH
● 雙脈沖脈寬:*小20ns,150us。
● 雙脈沖數:單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據標準:IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應用
? 功率半導體的來料檢驗
? 功率半導體的動態參數驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅動設計改善
? 實驗室的PCB設計評估
? 功率半導體的生產檢驗和篩選
測試項目