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廣電計量檢測集團股份有限公司

半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統

參考價 100000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱陜西博微電通科技有限責任公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號BW-4022C
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2025/3/10 11:04:15
  • 訪問次數47
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陜西博微電通科技有限責任公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子檢測設備、半導體實驗室系統及電力儲能解決方案的集研發、生產、銷售的高科技企業。

公司位于古城西安西咸新區灃東新城能源金貿區,地理位置環境*,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質人才隊伍,從軟件開發、硬件設計、系統集成、產品升級迭代及售后服務均由專業技術人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業合作開發出針對半導體測試、電力電子、能源管理系統系列產品,經過技術迭代,產品功全面,產品質量可靠,市場口碑優秀。

   公司注重產品質量注重客戶服務滿意度及產品體驗每一款產品出廠前都經過嚴格的檢驗或第三方機構監測,并持續優化產品功能、根據客戶需求定制或迭代升級產品。我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的、高品質的產品與服務幫助解決客戶實際使用痛點,開發難點,節約生產成本提高工作效率,助力行業發展。



半導體測試機,半導體熱特性安全測試設備,半導體高精度溫箱,電池安全管理及儲能
產地 國產
BW-4022C半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。
半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統 產品信息


BW-4022C


半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統


BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。

BW-4022C 半導體綜合測試系統采用大規模 32 位 ARM&MCU 設計, PC 中文操作界面,程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調用式菜單操作界面,測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,根據不同器件更換測試座配合,系統可適配設置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態參數測試。

該測試系統主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成,并接受客戶端MES系統進行測試指令:方案選取/開始/暫停/停止/數據上傳等操作執行,并可將測試數據上傳至MES系統由客戶端處理。

BW-4022C半導體綜合測試系統可同時針對:

【光耦】

適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。

【二極管】

〖Diode /穩壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。

【壓敏電阻】

〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。

【鋰亞電池】

〖Kelvin/電池空載電壓(Vbt)/負載電壓(Vbt_load )  /測試電流(0-10A 恒流 )/負載電壓變化值(▲Vbt_load)/電池內阻(Vbt Res)  等進行測試。

【晶振】

〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻(Ri)/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍(10kHz~10MHz)等測試。

【其他測試功能可定制拓展】

一、 設備規格與環境要求

物理規格

主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式

主機重量:<25kg

產品色系:白色系

工況環境

主機功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過 1500m;

環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或性氣體,導電粉塵等;

供電要求

電源配置:AC220V±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續;

二、測試種類與技術指標

1、光耦測試:

輸入(Input)相關參數

· 正向電壓

· 符號:Vf

· 最小值:無

· 典型值:1.2 V

· MAX值:1.4 V

· 單位:V

· 測試條件:If=20mA

· 反向電流

· 符號:Ir

· 最小值:無

· 典型值:無

· MAX值:10 μA

· 單位:μA

· 測試條件:Vr=4V

輸出(Output)相關參數

· 集電極暗電流

· 符號:Iceo

· 最小值:無

· 典型值:無

· MAX值:100 nA

· 單位:nA

· 測試條件:Vce-20V,If=0

· 集電極 - 發射極擊穿電壓

· 符號:BVceo

· 最小值:80 V

· 典型值:無

· MAX值:無

· 單位:V

· 測試條件:Ic-0.1mA,If=0

· 發射極 - 集電極擊穿電壓

· 符號:BVeco

· 最小值:6 V

· 典型值:無

· MAX值:無

· 單位:V

· 測試條件:Ie-10μA,,If=0

· 集電極電流

· 符號:Ic

· 最小值:2.5 mA

· 典型值:無

· MAX值:30 mA

· 單位:mA

· 測試條件:If=5mA,Vce-5V

· 電流傳輸比

· 符號:CTR

· 最小值:50 %

· 典型值:無

· MAX值:600 %

· 單位:%

· 測試條件:If=5mA,Vce-5V

傳輸特性)相關參數

· 集電極 - 發射極飽和電壓

· 符號:Vce

· 最小值:無

· 典型值:0.1 V

· MAX值:0.2 V

· 單位:V

· 測試條件:If=20mA,Ic-1mA

· 隔離電阻

· 符號:Riso

· 最小值: Ω

· 典型值: Ω

· MAX值:無

· 單位:Ω

· 測試條件:DC500V, 40 - 60% R.H.

(以上參數基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數)

· 三極管管型光耦

可控硅光耦

繼電器光耦

2、二極管類測試

· 二極管類:二極管

二極管類:穩壓二極管

二極管類:穩壓二極管

二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)

二極管類: 瞬態二極

二極管類:整流橋堆

二極管類:三相整流橋堆

3、壓敏電阻測試

· Kelvin 、Vrrm Vdrm 、Irrm 、Idrm   Vr ;(參數配置精度與二極管一致)

4、鋰亞電池測試

· Kelvin(0~150mV)

· 電池空載電壓(Vbt)  0-100V  +-0.2%

· 負載電壓(Vbt_load )   0-100V  +-0.5%  測試電流(0-10A 恒流 )

· 負載電壓變化值(Vbt_load)0-10v +-5% 測試電流(0-10A 恒流 )

· 電池內阻(Vbt Res)  0-10v +-5%  測試電流(0-10A 脈沖 )

5、晶振測試

· 震蕩頻率(Freq_osc )

· 諧振電阻(Ri)

· 頻率精度(Freq_ppm)

· 測試頻率范圍(10kHz~10MHz)

測試參數

符號

量程

測試范圍

測試條件

測量精度

震蕩頻率

Fosc

10kHz~100kHz

100kHz~1MHz

1MHz~5MHz

5MHz~10MHz

10kHz~10MHz


0.1Hz

諧振電阻

Rz

0~100K



±10%

頻率精度

ppm


0-1000


0.01%

三、參數配置與性能指標

      產品詳細資料請詢問廠家索取


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