BW-4022C
半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統
BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統,經我公司產品升級與開發,目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。
BW-4022C 半導體綜合測試系統采用大規模 32 位 ARM&MCU 設計, PC 中文操作界面,程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調用式菜單操作界面,測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,根據不同器件更換測試座配合,系統可適配設置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態參數測試。
該測試系統主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成,并接受客戶端MES系統進行測試指令:方案選取/開始/暫停/停止/數據上傳等操作執行,并可將測試數據上傳至MES系統由客戶端處理。
BW-4022C半導體綜合測試系統可同時針對:
【光耦】
適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。
【二極管】
〖Diode /穩壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。
【壓敏電阻】
〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。
【鋰亞電池】
〖Kelvin/電池空載電壓(Vbt)/負載電壓(Vbt_load ) /測試電流(0-10A 恒流 )/負載電壓變化值(▲Vbt_load)/電池內阻(Vbt Res) 等進行測試。
【晶振】
〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻(Ri)/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍(10kHz~10MHz)等測試。
【其他測試功能可定制拓展】
一、 設備規格與環境要求
物理規格
主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式
主機重量:<25kg
產品色系:白色系
工況環境
主機功耗:<300W
海拔高度:海拔不超過 1500m;
環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);
相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護條件:無較大灰塵,腐蝕或性氣體,導電粉塵等;
供電要求
電源配置:AC220V±10%、50Hz±1Hz;
工作時間:連續;
二、測試種類與技術指標
1、光耦測試:
輸入(Input)相關參數
· 正向電壓
· 符號:Vf
· 最小值:無
· 典型值:1.2 V
· MAX值:1.4 V
· 單位:V
· 測試條件:If=20mA
· 反向電流:
· 符號:Ir
· 最小值:無
· 典型值:無
· MAX值:10 μA
· 單位:μA
· 測試條件:Vr=4V
輸出(Output)相關參數
· 集電極暗電流
· 符號:Iceo
· 最小值:無
· 典型值:無
· MAX值:100 nA
· 單位:nA
· 測試條件:Vce-20V,If=0
· 集電極 - 發射極擊穿電壓
· 符號:BVceo
· 最小值:80 V
· 典型值:無
· MAX值:無
· 單位:V
· 測試條件:Ic-0.1mA,If=0
· 發射極 - 集電極擊穿電壓
· 符號:BVeco
· 最小值:6 V
· 典型值:無
· MAX值:無
· 單位:V
· 測試條件:Ie-10μA,,If=0
· 集電極電流
· 符號:Ic
· 最小值:2.5 mA
· 典型值:無
· MAX值:30 mA
· 單位:mA
· 測試條件:If=5mA,Vce-5V
· 電流傳輸比
· 符號:CTR
· 最小值:50 %
· 典型值:無
· MAX值:600 %
· 單位:%
· 測試條件:If=5mA,Vce-5V
傳輸特性)相關參數
· 集電極 - 發射極飽和電壓
· 符號:Vce
· 最小值:無
· 典型值:0.1 V
· MAX值:0.2 V
· 單位:V
· 測試條件:If=20mA,Ic-1mA
· 隔離電阻
· 符號:Riso
· 最小值: Ω
· 典型值: Ω
· MAX值:無
· 單位:Ω
· 測試條件:DC500V, 40 - 60% R.H.
(以上參數基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數)
· 三極管管型光耦
可控硅光耦
繼電器光耦
2、二極管類測試
· 二極管類:二極管
二極管類:穩壓二極管
二極管類:穩壓二極管
二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)
二極管類: 瞬態二極
二極管類:整流橋堆
二極管類:三相整流橋堆
3、壓敏電阻測試
· Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、 △Vr ;(參數配置精度與二極管一致)
4、鋰亞電池測試
· Kelvin(0~150mV)
· 電池空載電壓(Vbt) 0-100V +-0.2%
· 負載電壓(Vbt_load ) 0-100V +-0.5% 測試電流(0-10A 恒流 )
· 負載電壓變化值(▲Vbt_load)0-10v +-5% 測試電流(0-10A 恒流 )
· 電池內阻(Vbt Res) 0-10v +-5% 測試電流(0-10A 脈沖 )
5、晶振測試
· 震蕩頻率(Freq_osc )
· 諧振電阻(Ri)
· 頻率精度(Freq_ppm)
· 測試頻率范圍(10kHz~10MHz)
測試參數 | 符號 | 量程 | 測試范圍 | 測試條件 | 測量精度 |
震蕩頻率 | Fosc | 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~5MHz 5MHz~10MHz | 10kHz~10MHz | 0.1Hz | |
諧振電阻 | Rz | 0~100K | ±10% | ||
頻率精度 | ppm | 0-1000 | 0.01% |