鍍層測厚儀
產品品牌：Bruker
產品型號：M1 MISTRAL
用于大件樣品和多層膜樣品的非破壞分析
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）-92號（鈾）中的元素。分析的樣品類型：各種不同材料，如金屬、合金、塊體、溶液等。
480×490×200mm3的大腔體支持更大樣品的測量。自動X-Y-Z軸程控樣品臺，大移動范圍200×175×80mm，支持自動多點測量。
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益， 可以提供與材料元素成分有關的準確信息。測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠寶及合金分析：
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K（開）表示
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的元素。分析的樣品類型：各類不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
樣品尺寸大可達100×100×100mm，無需處理，直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方，測量過程中部接觸樣品，因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品，如精工細作的珠寶和不容厚度的樣品。
各種應用介紹：
· 通用金屬分析
M1 MISTRAL是通用金屬鍍層分析的理想工具，對緊固件、五金材料、汽車零部件鍍層的機械部件能進行準確、便捷的分析。
· 電子/PCB
采用X-Ray熒光技術的M1 MISTRAL也可分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、引線框架、圓晶、連接器等，M2 BLIZZARD采用開放腔體，可對大型電路板進行測量。
· 珠寶及合金分析
M1 MISTRAL是珠寶。硬幣及貴金屬的理想分析工具。珠寶合金，30S就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K（開）表示。
