
SE-PCT02通用型高精密CT檢測系統.能在短時間內建出多層斷層圖像包括樣品的三維成像,快速,準確的對樣品進行建模、分析和檢測。
產品優勢
載物臺承重 30kg,可檢樣品300×600mm
分辨率自動定位
快速重建,區域高精度重建結合,精確分析客戶關注需求
三維點云圖任意角度切片提取,精準分析
多尺度二維圖像增強,細節更突出
掃描過程簡單、重建成像迅速
應用領域
小型及中型金屬件
復合材料
功率半導體
生物樣本
陶瓷器件
系統規格
系統參數
空間分辨率:>3μ m
最小缺陷分辨率:1.5μ m
對比度分辨率:小于1%
測量誤差:(1.5+L/200)μ m
射線防護:﹤1μ Sv/h,符合國家 GBZ117-2015 標準
樣品直徑:300mm
樣品長度:600mm
樣品重量:30kg
設備尺寸:2500mm(長)×1500mm(寬)×1800mm(高)
設備重量:約 5000kg
供給電源:220VAC, 50/60Hz
工作環境:0℃~ 40℃ / 30 ~ 85RH
設備功率:1.3KW
探測器
像素矩陣:3072X3072
成像面積:427mmX427mm
像素尺寸:139μ m
X射線源
電壓:225kV
最小焦斑:<3μ m
光管類型:開管