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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀

參考價 555
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京中芯云科儀器有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/12/13 9:49:10
  • 訪問次數28
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北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事精密儀器設備,安全控制設備,計量檢測設備,科學研究設備,3D打印及空間技術的研發和銷售的 高科技公司,我們將同國內單位和高等院校合作,服務于國內和國外廣大客 戶,我們將提供更多優質產品,優質服務,共同開拓進取。

我們主要經營的產品有:

1、壓電材料測試儀:ZJ-3型d33測量儀,ZJ-4型壓電測試儀,ZJ-5型積層壓電測試儀,ZJ-6型d33d/d31/d15型準靜態系數測量儀

2、鐵電測試儀:ZT-4A型鐵電測試儀,ZT-4C型鐵電測試儀,JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

3、介電測試儀:低溫介電測試儀,高溫介電測試儀,高低溫介電測試儀

4、熱電材料測試儀:熱電效應測試儀

 

 

 

 

壓電測試儀,鐵電測試儀,介電測試系統,熱電材料測試系統,壓電極化裝置,封管機,測斜儀,直剪儀,巖石聲波測試儀等
產地 國產
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備,測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(ε)器件的介電性能測量與分析,可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數,同時計算
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀 產品信息

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(ε)及損耗測試儀(tgd)

關鍵詞:介電常數(ε),損耗測試儀(tgd),品質因數(Q),頻率(f)

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀

 

     JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(ε)及損耗測試儀(tgd)是目前針對PVDF薄膜材料,是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數及介質損耗測試儀。是目前能夠處理的介電常數(ε)和介損(tgd)的圖譜。GB/T1693-2007主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tgd)和電容量( Cx)以,其測量線路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成,本電橋特別適應測量各類絕緣油和絕緣材料的介損(tgd)及介電常數(ε)。

   JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備,測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(ε)器件的介電性能測量與分析,可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數,同時計算獲得反應材料介電性能的復介電常數和損耗參數。

 

         薄膜介電常數(ε)    薄膜介損(tgd)圖譜

 JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀 

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀

三電極結構設計:

微調千分尺:微調千分尺具備0.001mm的調節精度,可精細化調節上下電極之間的距離。

平行板測試電極:下電極固定在底部支撐座,上電極可由微調千分尺調節行程距離。上電極帶有保護電極。

上電極片:上電極標配有2mm球頭電極、φ26.8mm圓片電極和φ38mm圓片電極。可根據樣品大小隨時更換。

鎖緊裝置:當樣品放入上下電極之間后,可調節此鎖緊裝置,固定上下電極的調節行程。防止輕微移動引起的刻度偏差。

嚴格按照ASTM D150國際標準設計,電極表面鍍金處理,導電性能好、抗氧化,使用壽命更長

一、真正的三電極設計

介電夾具基于ASTM D150標準試驗方法,采用三電極法設計。上電極+下電極+保護電極,電極表面鍍金處理,導電性能好、抗氧化。為消除測試連接線阻抗及連接線之間相互耦合對測試的影響,儀器與夾具電極連接采用4端對法。

得益于測試線纜和電極引線的良好屏蔽,屏蔽層直達測試電,因此獲得更高的校準頻率。

2.校準頻率z高可達100MHz

適配的阻抗分析儀更加豐富,充分利用測試儀器的測試頻率范圍(20Hz-120MHz),以滿足測試樣品對更高頻率的要求。

3.高精度調節行程

適配高精度微調千分尺,可調精度為0.001mm,

上電極可調行程為12mm,并帶有鎖緊裝置,可有效鎖定當前刻度位置,確保測試的穩定性和準確性。

標配26.8/38mm尺寸電極片,可滿足不同尺寸樣品測量,樣品安裝方便、簡單

主要技術參數:

1、測試頻率:DC~100MHz

2、樣品要求:雙面涂覆電極,保持平整、光滑

3、樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10mm

4、電極圓片:無。有效面積:樣品上下涂覆電極垂直重疊部分面積

5、誤差分析:存在邊緣電容,樣品表面凹陷處被導電體填充

6、測試接口:4個SMA母頭

7、上電極:φ2mm球頭電極+φ26.8mm圓片電極+φ38mm圓片電極

8、保護電極:上電極帶保護電極,電極表面鍍金

9、上電極壓力調節:12mm行程調節,用于上電極與樣品良好的電性能接觸

10、帶電極樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10m

11、設計標準:ASTM D150和D2149-97國際標準,GB/T1409-2006國家標準

12、電極結構:兩平行板電極+保護電極,三電極結構

13、電極引線:同軸屏蔽線,消除電磁干擾對測試影響

14、下電極:φ60mm鍍金圓片電極

15、上電極行程調節:12mm行程調節,用于樣品安裝

16、數據存儲:數據庫保存各類實驗數據,同時輸出TXT、XLS、BMP等格式文件,對實驗數據提供豐富的查詢與分析,輸出圖形與數據。

 

 



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